【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及角光谱成像领域，特别涉及一种角分辨率高光谱成像装置及方法。
技术介绍
1、角分辨光谱测量技术是一种高级的光谱学方法，它不仅可以提供光谱信息，还能提供与角度相关的数据，该技术的核心在于能够区分不同角度下的光谱特征，这意味着除了角分辨率测量技术除了能够获取传统的光谱信息之外，还可以获取到入射光或反射/发射光相对于样品表面的角度信息。
2、在诸如类似于太阳能电池、激光器等多个重要应用中，都需要对微观较小的微区目标有极高的角分辨光谱检测的需求，而若是需要对微区目标进行准确的角分辨光谱检测，则必须对微区目标进行清晰分辨的显微成像。在显微成像技术中，通常需要将显微镜与相机相结合，由此对微区目标进行角分辨光谱测量。转臂法对微区目标进行角分辨光谱测量时需要通过旋转样品或探测器来改变入射光或出射光的角度，这种方法虽然可以用来收集不同角度下的光谱数据，但是由于机械运动的限制，转臂法无法对微区目标进行准确观测与测试。
3、目前更多的做法是基于傅里叶面成像技术来实现显微镜下的角分辨光谱测量以进行快速、连续角分辨光谱成像。然...
【技术保护点】
1.一种角分辨率高光谱成像装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的角分辨率高光谱成像装置，其特征在于，傅里叶角分辨成像子系统包括傅里叶变换器件以及视场限定器件，其中傅里叶变换器件用于将角分辨信号的光场空间相位分布转为二维空间分布，视场限定器件用于遮挡角分辨信号中重复的光场空间相位。
3.根据权利要求2所述的角分辨率高光谱成像装置，其特征在于，傅里叶变换器件包括依光路设置的第一4f系统和第二4f系统，视场限定器件包括设置在第二4f系统中的狭缝。
4.根据权利要求3所述的角分辨率高光谱成像装置，其特征在于，第二4f系统为由第三...
【技术特征摘要】
1.一种角分辨率高光谱成像装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的角分辨率高光谱成像装置，其特征在于，傅里叶角分辨成像子系统包括傅里叶变换器件以及视场限定器件，其中傅里叶变换器件用于将角分辨信号的光场空间相位分布转为二维空间分布，视场限定器件用于遮挡角分辨信号中重复的光场空间相位。
3.根据权利要求2所述的角分辨率高光谱成像装置，其特征在于，傅里叶变换器件包括依光路设置的第一4f系统和第二4f系统，视场限定器件包括设置在第二4f系统中的狭缝。
4.根据权利要求3所述的角分辨率高光谱成像装置，其特征在于，第二4f系统为由第三透镜和第四透镜组成的4f系统，其中第一4f系统输出的共轭面被设置在第三透镜的前焦平面位置，狭缝设置在第三透镜和第四透镜的共焦面。
5.根据权利要求1所述的角分辨率高光谱成像装置，其特征在于，采用平行光自角分辨目标远离第一透镜的一侧垂直照射角分辨目标，或者，采用平行光自角分辨目标靠近第一透镜的一侧垂直照射角分辨目标。
6.根据权利要求1所述的角分辨率高光谱成像装置，其特征在于，傅里叶角分辨成像子系统包括用于对角...
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