一种三维空间定位坐标获取用标志点装置制造方法及图纸

技术编号:43433772 阅读:18 留言:0更新日期:2024-11-27 12:42
本技术公开了一种三维空间定位坐标获取用标志点装置,涉及坐标定位技术领域,包括测试柱、定位盖和磁吸结构,所述测试柱分别与所述定位盖和所述磁吸结构能够拆卸地连接,所述定位盖上设置有定位结构,所述定位结构用于待获取坐标位置的定位,所述磁吸结构用于将所述三维空间定位坐标获取用标志点装置固定在待测量的结构上。本技术定位精度高,安装简单,成本低廉,实现便利,可结合定位识别算法获取到测量空间内任意定位点的三维坐标。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及坐标定位,特别是涉及一种三维空间定位坐标获取用标志点装置


技术介绍

1、在结构件尺寸测量时通常需要获取结构件上某点的三维坐标,传统方法借助的表贴,其标志物定位和测量精度差;目前市面上产品多为圆盘或球形结构,不具备精确定位被测面上某一点的功能。


技术实现思路

1、本技术的目的是提供一种三维空间定位坐标获取用标志点装置,以解决上述现有技术存在的问题,定位精度高。

2、为实现上述目的,本技术提供了如下方案:

3、本技术提供了一种三维空间定位坐标获取用标志点装置,包括测试柱、定位盖和磁吸结构,所述测试柱分别与所述定位盖和所述磁吸结构能够拆卸地连接,所述定位盖上设置有定位结构,所述定位结构用于待获取坐标位置的定位,所述磁吸结构用于将所述三维空间定位坐标获取用标志点装置固定在待测量的结构上。

4、优选地,所述测试柱与所述定位盖同轴设置。

5、优选地,所述测试柱上开设有第一通孔,所述定位盖与所述第一通孔对应位置设置有第二通孔,所述第一通孔与所述第二通孔同轴设置,所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种三维空间定位坐标获取用标志点装置,其特征在于:包括测试柱、定位盖和磁吸结构,所述测试柱分别与所述定位盖和所述磁吸结构能够拆卸地连接,所述定位盖上设置有定位结构,所述定位结构用于待获取坐标位置的定位,所述磁吸结构用于将所述三维空间定位坐标获取用标志点装置固定在待测量的结构上。

2.根据权利要求1所述的三维空间定位坐标获取用标志点装置,其特征在于:所述测试柱与所述定位盖同轴设置。

3.根据权利要求1所述的三维空间定位坐标获取用标志点装置,其特征在于:所述测试柱上开设有第一通孔,所述定位盖与所述第一通孔对应位置设置有第二通孔,所述第一通孔与所述第二通孔同轴设置,...

【技术特征摘要】

1.一种三维空间定位坐标获取用标志点装置,其特征在于:包括测试柱、定位盖和磁吸结构,所述测试柱分别与所述定位盖和所述磁吸结构能够拆卸地连接,所述定位盖上设置有定位结构,所述定位结构用于待获取坐标位置的定位,所述磁吸结构用于将所述三维空间定位坐标获取用标志点装置固定在待测量的结构上。

2.根据权利要求1所述的三维空间定位坐标获取用标志点装置,其特征在于:所述测试柱与所述定位盖同轴设置。

3.根据权利要求1所述的三维空间定位坐标获取用标志点装置,其特征在于:所述测试柱上开设有第一通孔,所述定位盖与所述第一通孔对应位置设置有第二通孔,所述第一通孔与所述第二通孔同轴设置,所述定位结构位于所述第二通孔的内壁。

4.根据权利要求3所述的三维空间定位坐标获取用标志点装置,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:王建峰张化良刘玉奇翟亚宇王英华
申请(专利权)人:中国船舶集团有限公司综合技术经济研究院
类型:新型
国别省市:

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