【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体材料,具体地说是涉及一种利用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的工艺。
技术介绍
1、锑化铟的分子式为insb,分子量为236.578,是具有金属光泽的化合物型半导体,闪锌矿结构,属直接跃迁型能带结构,熔点525℃,单晶材料的位错密度低。室温下禁带宽度为0.18电子伏,是一种超窄禁带半导体材料,其对应的电激发光波波长为5.3微米,正好适合中波红外辐射信号的探测波长需求,是一种性能优良的红外探测器材料。砷化铟的化学式inas,是一种化合物半导体材料,常温呈银灰色固体,具有闪锌矿型的晶体结构,晶格常数为0.6058nm,能带结构为直接跃迁,禁带宽度(300k)0.45ev,具有饱和电子漂移速度高、光电转换效率高、超窄禁带宽度等特性,是制造霍耳器件和磁阻器件的理想材料,在红外光学器件领域也有广泛应用。
2、锑化铟和砷化铟都是半导体材料,能带结构相似,禁带宽度相近(分别为:0.18ev和0.45ev),都具有饱和电子漂移速度高、光电转换效率高、超窄禁带宽度等特性,都是新一代红外半导体基础材料。在锑化铟衬底上外延生长砷
...【技术保护点】
1.一种利用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的工艺,其特征在于,采用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的装置,该装置包括反应管、高压氢气储罐和液态三溴化砷储罐;
2.根据权利要求1所述的一种利用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的工艺,其特征在于:所述反应管呈卧式布置,反应管的进口端和出口端分别设置在反应管的两端;所述托架设置在反应管的底壁中间位置处。
3.根据权利要求1所述的一种利用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的工艺,其特征在于:在反应管的外侧设置有隔热材料,所述隔热材料采用陶瓷纤维;所述第二加热元件设置在隔热材料和反应管的外壁之间。
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...【技术特征摘要】
1.一种利用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的工艺,其特征在于,采用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的装置,该装置包括反应管、高压氢气储罐和液态三溴化砷储罐;
2.根据权利要求1所述的一种利用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的工艺,其特征在于:所述反应管呈卧式布置,反应管的进口端和出口端分别设置在反应管的两端;所述托架设置在反应管的底壁中间位置处。
3.根据权利要求1所述的一种利用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的工艺,其特征在于:在反应管的外侧设置有隔热材料,所述隔热材料采用陶瓷纤维;所述第二加热元件设置在隔热材料和反应管的外壁之间。
4.根据权利要求1所述的一种利用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的工艺,其特征在于,步骤(1)中:所述锑化铟衬底盛装在石英舟中,所述铟粒涂抹在锑化铟衬底的上表面。
5.根据权利要求4所述的一种利用三溴化砷合成砷化铟外延薄膜晶片的工艺,其特征在于:所述铟粒的粒径为0.8-1微米,铟粒的用量为50-60微克。
【专利技术属性】
技术研发人员:聂林涛,申志兵,田斌,周于溪,朱江,杨艳,常争争,
申请(专利权)人:济源海煜科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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