一种基于NED镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法及装置制造方法及图纸

本申请公开了一种基于NED镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法及装置，属于光学测量技术领域，包括：控制第一入射光源以目标角度入射至NED镜头后得到第二入射光源，其中，第一入射光源为具有波长为λ<subgt;1</subgt;的单色平行光，目标角度为第一入射光源相对于NED镜头的入射角度；第一入射光源经由NED镜头后输出的第二入射光源成像于成像光谱仪狭缝各个位置，获得狭缝上各个位置的准单色点光源；狭缝上各个位置的准单色点光源经过成像光谱仪系统成像，得到像面强度分布，根据像面强度分布获得各个位置的准单色点光源的点扩散函数，通过本申请实现了对狭缝各点的点扩散函数的进行测量，提高对于点扩散函数进行测量的便捷性与全面性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及光学测量，更具体地，涉及一种基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法及装置。

技术介绍

1、在光谱测试时，为了进行带宽和杂散光校正，通常需要使用单色光源，通过光谱仪对单色光源的响应得到其光谱展宽曲线，基于展宽曲线对原始光谱进行反卷积或拟合得到未展宽光谱。在光学成像测试时，通常需要使用点光源，通过光学成像系统对点光源成像，得到点光源的点扩散函数，基于点扩散函数对原始图像进行反卷积或拟合得到未扩展图像。对于成像光谱仪，其将狭缝成像为二维图像，包括空间维和光谱维，为了对二维光谱图像进行带宽和杂散光校正，需要测试得到狭缝各点的点扩散函数。

2、传统的光学系统点扩散函数测量方法，通过采用小孔或小孔阵列成像的方式，得到点扩散函数随视场的变化特性。该方法需要加工小孔样板，且孔的尺寸和位置无法改变。用传统方法将成像光谱仪狭缝替换为小孔阵列可完成部分测试，但只能对开孔位置进行测试，无法对狭缝各点进行测试，且替换狭缝并调试流程复杂。

3、因此，提供一种对狭缝各点的点扩散函数的进行测量的方法，就成为亟待解决的问题。p>

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【技术保护点】

1.一种基于NED镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的基于NED镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，

3.如权利要求2所述的基于NED镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，在所述通过光源调节机构调整所述第一入射光源相对于所述NED镜头的入射角度，得到一系列目标角度之后，所述方法还包括：

4.如权利要求1所述的基于NED镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，所述控制第一入射光源以目标角度入射至NED镜头后得到第二入射光源，包括：

5.如权利要求1所述的基于NED...

【技术特征摘要】

1.一种基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，

3.如权利要求2所述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，在所述通过光源调节机构调整所述第一入射光源相对于所述ned镜头的入射角度，得到一系列目标角度之后，所述方法还包括：

4.如权利要求1所述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，所述控制第一入射光源以目标角度入射至ned镜头后得到第二入射光源，包括：

5.如权利要求1所述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，所述成像光谱仪系统包括成像光谱仪图像采集系统，其特征在于，所述狭...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗时文，刘璐宁，钟凡，王戬，梅林海，郑增强，刘荣华，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：