一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法技术

技术编号:43416523 阅读:13 留言:0更新日期:2024-11-22 17:51
本发明专利技术涉及工业和科研技术领域,提供一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法,包括以下步骤:步骤一、首先准备四~六个激光跟踪仪的“标记球”工具,并为其编号后安置在待扫描空间内;步骤二、将激光跟踪仪放置到适当位置,并按编号探测标记球的3D坐标,以用于辐射测量被测物整体;步骤三、待步骤二中标记球的3D坐标探测结束后,通过激光扫描仪去先按编号顺序把标记球进行扫描,并通过生成模块生成标记球的球心点,再扫描被测物的逐个局部。通过软件将激光扫描仪与激光跟踪仪的数据自动融合到同一个3D空间坐标系中,可以大幅提高被测物整体模型的生成效率,无需复杂的后处理步骤,降低了操作难度和成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及工业和科研,具体为一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法


技术介绍

1、在光学系统中,杂散光的抑制有光阑法、滤波器法以及图像处理法三种方式,光阑法是目前应用最为广泛的杂散光抑制方法之一。其基本原理是在光路中设置小孔限制主光通过,从而减少杂散光的产生和传播。光阑可以是单个孔径或多个孔径的组合,也可以设计成不同形状的光阑,如圆形、方形、十字形等;滤波器法是一种通过选择性过滤掉某些波长的光来实现杂散光抑制的方法。其原理是利用滤波器的特定波长透过率来选择性地过滤掉杂散光中的某些频率成分,从而实现杂散光的抑制;图像处理法是通过对图像进行后处理,包括增强、去噪、滤波等方法实现杂散光抑制的方法。此类方法往往需要消耗大量的计算资源,并且对光学系统的要求也较高,使用起来比较困难。

2、在光学系统中,杂散光的抑制一直是一个重要的问题。杂散光是指不由目标物体反射或传播而产生的光线,这些光线会干扰光学系统的成像和测量过程,影响最终结果的精度。因此,需要采取一定的方法来抑制杂散光,以提高光学系统的成像质量和测量精度。


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【技术保护点】

1.一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法,其特征在于,所述步骤一中的标记球数量五个,其编号和格式为:K1、K2...KN。

3.根据权利要求1所述的一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法,其特征在于,所述标记球能够同时被激光扫描仪与激光跟踪仪检测识别出的球心点。

4.根据权利要求1所述的一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法,其特征在于,所述步骤二中激光跟踪仪的放置位置要求为覆盖被测物的整体测量范围。

5.根...

【技术特征摘要】

1.一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法,其特征在于,所述步骤一中的标记球数量五个,其编号和格式为:k1、k2...kn。

3.根据权利要求1所述的一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法,其特征在于,所述标记球能够同时被激光扫描仪与激光跟踪仪检测识别出的球心点。

4.根据权利要求1所述的一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法,其特征在于,所述步骤二中激光跟踪仪的放置位置要求为覆盖被测物的整体测量范围。

5.根据权利要求1所述的一种三维激光扫描仪与激光跟踪仪高精度扫描检测方法,其特征在于,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:姜春玉张羽
申请(专利权)人:苏州雅翼信息科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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