【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学仪器校准，尤其涉及基于光谱一致性的仪器校准方法、系统、介质及装置。
技术介绍
1、在光谱测量分析仪器中，由于光学元件加工误差，光学系统安装误差，探测器安装误差，仪器综合标定误差的存在，对于相同的测试对象，不仅不同厂家、不同型号的仪器之间存在测量光谱信号的不一致，即使相同厂家、相同型号的多台仪器之间的测量光谱信号，也都会存在光谱信号的不一致性。这种台与台设备测量光谱信号的不一致是系统误差，也即仪器之间的台间差。与此同时每台光谱仪因为受环境影响，一段时间后也会发生轻微的光谱漂移，因此需要定期进行校准。
2、对于光谱测量分析仪器的台间差和光谱漂移，目前校正方法通常采用锐线谱线灯。锐线谱线灯有多条离散线状光谱，谱线都已事先经过校准并给出标准值。校准时，光谱仪直接测量谱线灯发出的光，得到对应的离散线状特征谱线。对应不同的光谱测量分析仪器，此时离散线状特征谱线对应的横坐标值根据不同仪器可能为像素或者采样序列的序数值。通过标准值和像素(采样序列)序数值可以建立起二阶多项式关系，通过回归求解即可获得常数项、一次项和二次项的...
【技术保护点】
1.一种基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求2所述的基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求3所述的基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，所述对标准光谱进行下采样的步骤包括：
5.根据权利要求1所述的基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，所述对插值拟合后的标准光谱和待校准光谱进行归一化处理的步骤包括：
6.根据权利要求5所述的基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，所...
【技术特征摘要】
1.一种基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求2所述的基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求3所述的基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，所述对标准光谱进行下采样的步骤包括：
5.根据权利要求1所述的基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，所述对插值拟合后的标准光谱和待校准光谱进行归一化处理的步骤包括：
6.根据权利要求5所述的基于光谱一致性的仪器校准方法，其特征在于，所述采用窗口移动方式分析归一化处理后的标准光谱和待校准光谱的相似度的步骤包括：<...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜彪，王家民，李琪，张正东，李轲，周玉山，郝璐，何津，徐晓雯，钟子豪，
申请(专利权)人：北京易兴元石化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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