【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及数据处理的，尤其涉及一种数据校正方法、装置、设备及程序产品。
技术介绍
1、安检机可以利用射线的穿透能力，对被检物体进行非接触式扫描，以实现安全检查。安检机可以通过传送带匀速传输物体，并配置射线源和线阵探测器对物体进行连续线扫描成像。在理想状态下，线阵探测器对于输出剂量稳定的射线源的响应基本一致。
2、在实际作业中，由于线阵探测器生产制造的误差以及几何结构的差异，可能导致在输出剂量稳定射线的情况下线阵探测器接收射线的响应并不相同。并且，由于射线源生产制造的误差、以及长期运行出现的靶点偏移，可能导致输出剂量并不稳定。目前，为了解决线阵探测器和射线源引起的误差，可以根据预存的校正参数对线阵探测器采集的原始数据进行校正。
3、在上述校正过程中，由于线阵探测器和射线源的误差，通过预存的校正模版参数进行校正，可能会产生大面积伪影，导致校正效果较差。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种数据校正方法、装置、设备及程序产品，用以解决现有技术中由于线阵探测器和射线...
【技术保护点】
1.一种数据校正方法，其特征在于，应用于安检机，所述安检机包括背散射探测器和透射探测器，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述透射参数包括透射亮场参数和透射暗场参数，根据所述掩膜数据和所述透射参数，确定透射校正参数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述掩膜数据包括多个像素分别对应的掩膜值，所述掩膜值为第一预设值或第二预设值，所述透射原始数据包括多个像素分别对应的透射原始数值，根据所述掩膜数据和所述透射原始数据，确定更新偏置因子，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述更新偏置因子，...
【技术特征摘要】
1.一种数据校正方法，其特征在于，应用于安检机，所述安检机包括背散射探测器和透射探测器，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述透射参数包括透射亮场参数和透射暗场参数，根据所述掩膜数据和所述透射参数，确定透射校正参数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述掩膜数据包括多个像素分别对应的掩膜值，所述掩膜值为第一预设值或第二预设值，所述透射原始数据包括多个像素分别对应的透射原始数值，根据所述掩膜数据和所述透射原始数据，确定更新偏置因子，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述更新偏置因子，对所述透射亮场参数进行更新，得到第一亮场参数，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述背散射参数包括背散射亮场参数和背散射暗场参...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄天，董涛，徐光明，
申请(专利权)人：杭州睿影科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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