一种S参数的测试装置、系统和方法制造方法及图纸

本发明专利技术旨在提供一种测试成本低、操作简便、测试效率高且测试频率扩展性好的S参数的测试装置、系统和方法。装置包括矢量信号收发仪（VST）、程控开关和测试盒（1），测试盒内设置有第一耦合器（2）和第二耦合器（3），第一耦合器的输出端口和第二耦合器的输入端口之间利用SMA公对公适配器连接在一起以形成耦合器组；系统还包括后台服务器和与后台服务器连接的显示屏，在后台服务器上装置有信号处理模块、测试数据储存模块、校准器件储存模块以及图像输出模块；方法包括以下步骤：系统上电，利用校准器件对所述S参数的测试装置进行校准，利用经过校准后的S参数的测试装置对测试产品进行测试。本发明专利技术应用于测试技术领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试，尤其涉及一种s参数的测试装置、系统和方法。

技术介绍

1、s参数（scattering parameters）测试是射频和微波工程领域中的一项关键技术，主要用于评估和表征电子组件、器件和系统的频率响应特性。s参数能够描述线性电气网络在稳态电信号激励下的电气行为，广泛应用于射频、微波和信号完整性的测试与仿真中。

2、现有技术的产品和方案主要基于矢量网络分析仪（vna）进行s参数的测量。矢量网络分析仪是一种高精度的测量仪器，能够提供关于被测件（dut）的反射和传输特性的详细信息。这些仪器通常包括一个或多个信号发生器、一个或多个接收机以及用于信号传输的射频接口。早期的s参数测试主要依赖于标量网络分析仪，但随着射频技术的发展和对更高精度测量的需求，矢量网络分析仪逐渐成为主流。

3、为了提高测试效率和准确性，现代的s参数测试方案通常结合自动化测试系统和智能软件分析平台，以实现快速、准确的测试流程和数据分析。

4、尽管现有的s参数测试产品和方案在技术上已经相当成熟，但仍存在一些不足之处：>

5、（1）测本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种S参数的测试装置，其特征在于，该装置包括矢量信号收发仪（VST）、程控开关（RF Switch）和测试盒（1），所述测试盒（1）内设置有第一耦合器（2）和第二耦合器（3），所述第一耦合器（2）的输出端口和所述第二耦合器（3）的输入端口之间利用SMA公对公适配器连接在一起以形成耦合器组，所述第一耦合器（2）和所述第二耦合器（3）的对外连接引脚均通过半钢高频稳相SMA线缆连接到所述测试盒（1）的外部作为测试接口，所述测试接口处均设置有SMA母头，所述矢量信号收发仪（VST）的输出端与所述第一耦合器（2）的输入端连接，所述程控开关（RF Switch）与所述矢量信号收发仪（VST）之间...

【技术特征摘要】

1.一种s参数的测试装置，其特征在于，该装置包括矢量信号收发仪（vst）、程控开关（rf switch）和测试盒（1），所述测试盒（1）内设置有第一耦合器（2）和第二耦合器（3），所述第一耦合器（2）的输出端口和所述第二耦合器（3）的输入端口之间利用sma公对公适配器连接在一起以形成耦合器组，所述第一耦合器（2）和所述第二耦合器（3）的对外连接引脚均通过半钢高频稳相sma线缆连接到所述测试盒（1）的外部作为测试接口，所述测试接口处均设置有sma母头，所述矢量信号收发仪（vst）的输出端与所述第一耦合器（2）的输入端连接，所述程控开关（rf switch）与所述矢量信号收发仪（vst）之间设置有反馈线，所述第二耦合器（3）的输出端连接被测产品（dut），所述第一耦合器（2）和所述第二耦合器（3）上分别设置有反馈线与所述程控开关（rf switch）连接，所述矢量信号收发仪（vst）与外围的后台服务器（a）通信连接。

2.根据权利要求1所述的一种s参数的测试装置，其特征在于，所述半钢高频稳相sma线缆包括位于内部的高频稳相sma线缆部分和包覆在所述高频稳相sma线缆部分外层的起到固定支撑作用的包钢层。

3.根据权利要求1所述的一种s参数的测试装置，其特征在于，在所述测试盒（1）内，所述第一耦合器（2）和所述第二耦合器（3）为上下位置固定设置。

4.根据权利要求1所述的一种s参数的测试装置，其特征在于，所述第一耦合器（2）和所述第二耦合器（3）对所述矢量信号收发仪（vst）的送入的信号进行滤波...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏新华，洪镇雄，赵选华，石泽淋，
申请(专利权)人：中山市博测达电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：