一种CT装置探测器响应的均匀性校正方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种CT装置探测器响应的均匀性校正方法，对于已校正的偏心摆放水模投影，通过半扫描重建得到带伪影的水模图像ImgOri，并进行修正得到修正图像为ImgCor；对带伪影的水模图像ImgOri和修正图像为ImgCor，分别进行扇束正投影，生成带伪影的投影PrjOri和无伪影的投影PrjIdeal；对于带伪影的投影PrjOri中，大于阈值的投影值在角度方向进行加和平均，得到PrjOri_ViewAvg，对于PrjOri投影值大于阈值的所有角度对应的PrjIdeal的投影值进行加和平均，得到PrjIdeal_ViewAvg。进行多项式拟合，得到二者的关系式；获取待进行均匀性校正的带伪影的水模投影数据，通过应用关系式获取的多项式系数，得到校正后的无伪影的水模投影数据。本发明专利技术对数据进行校正，可显著减少重建后图像中的伪影。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及的领域为x射线计算机断层摄影设备的系统校正方法，具体的说是一种对经过系统校正的ct系统仍存在的偏差进行校正的一种方法。

技术介绍

1、水模图像通常用于测试ct的系统性能。无论是国家标准还是行业标准都提及使用水模图像验证ct系统的性能。这些性能包括图像伪影、ct值准确性、ct图像噪声、ct值均匀性等。

2、ct系统非理想系统，ct的探测器阵列中的每一个通道，对于同样的输入x射线，其响应不可能达到一致，每个通道有独一无二的增益系数。

3、x射线为多能谱射线，x射线经过物体照射到探测器上的过程中，要经过散射作用，射束硬化作用，导致到达探测器的射线非理想。x射线计算机断层系统的系统校正其目的是，消除上述提及的各种实际硬件和物理效应的影响，得到理想的投影，重建得到无伪影的图像。往往经过一系列，包括但不限于强度归一化校正、空气校正(增益校正)、散射校正、串扰校正、硬化校正、非线性校正等系统校正后，水模图像中仍然存在伪影。上述伪影存在的原因是，经过上述提及的系统校正后，投影数据与理想的水模投影数据相比，仍存在偏差，本专利技术的目的是本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种CT装置探测器响应的均匀性校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种CT装置探测器响应的均匀性校正方法，其特征在于，所述偏心摆放是指水模摆放的几何中心与机架扫描中心不重合。

3.根据权利要求1所述的一种CT装置探测器响应的均匀性校正方法，其特征在于，所述偏心摆放，具体为：将水模摆放至扫描视野的边缘,但不超过扫描视野。

4.根据权利要求1所述的一种CT装置探测器响应的均匀性校正方法，其特征在于，所述已校正的偏心摆放水模投影，通过完成下列校正，包括但不限于：强度归一化校正、空气校正、散射校正、串扰校正、硬化校正、非线性校正。...

【技术特征摘要】

1.一种ct装置探测器响应的均匀性校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种ct装置探测器响应的均匀性校正方法，其特征在于，所述偏心摆放是指水模摆放的几何中心与机架扫描中心不重合。

3.根据权利要求1所述的一种ct装置探测器响应的均匀性校正方法，其特征在于，所述偏心摆放，具体为：将水模摆放至扫描视野的边缘,但不超过扫描视野。

4.根据权利要求1所述的一种ct装置探测器响应的均匀性校正方法，其特征在于，所述已校正的偏心摆放水模投影，通过完成下列校正，包括但不限于：强度归一化校正、空气校正、散射校正、串扰校正、硬化校正、非线性校正。

5.根据权利要求1所述的一种ct装置探测器响应的均匀性校正方法，其特征在于，所述通过半扫描重建得到带伪影的水模图像imgori，使用(180°+α)对应的扫描范围内数据，其中α为扇束角度。

6.根据权利要求1所述的一种ct装...

【专利技术属性】
技术研发人员：王群，相会财，晏雄伟，
申请(专利权)人：宽腾北京医疗器械有限公司，
类型：发明
国别省市：