一种双导杆接触式测量支架制造技术

本发明专利技术提供了一种双导杆接触式测量支架，移动端的凸出部分位于固定座的U型腔体内，2组导向杆通过固定顶丝将固定座与移动端联接在一起，测量柱安装在移动端的凸出部分的一侧，测头与测量柱接触，气缸作动推动移动端，带动整个移动端运动，压缩气缸弹簧，并带动测量基座同向运动，从而使得接触头同向运动进行测量。本发明专利技术运动精度更高，阻尼小，运动灵活，使测量机构运动时的随机间隙消除，从而将随机间隙对测量的影响去除，并且可靠性及耐用性极大提高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动化接触式测量领域，尤其是一种测量支架。

技术介绍

1、现有工业测量技术分为接触式和非接触式测量，对于接触式测量最主要的测量方式是三坐标的测量方式，对于其它个性化的测量也都是根据相关的测量要求，设计不同的测量机构。现有接触式测量机构中，测量头接触被测体表面时，由于接触力的不稳定使得测量机构的运动距离会有波动，会使测量传感器采集到的数据会有异常，进而影响了测量数据的稳定性；现有测量机构运动导向设计存在问题，运动运动精度普遍不高，从而影响测量精度，对于特殊体的测量表面(比如圆柱体的柱面)，很难采集到稳定的测量位置点的数据，并且易使采集到的数据与实际不符，造成数据失真；现有测量机构的运动阻尼大，所以需要的测量驱动力就大，易造成机械机构的变形，影响了数据采集的真实性；同时，现有测量支架的运动灵活性不高，容易造成卡顿，造成响应频率低，在动态测量时，测量机构的运动变化不能与被测表面的形状变化相快速适应，从而不能正确采集到被测体表面形状变化的数据。

技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足，本专利技术提供一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种双导杆接触式测量支架，包括测头(9)及气缸(14)，其特征在于：

2.根据权利要求1所述的双导杆接触式测量支架，其特征在于：

3.根据权利要求1所述的双导杆接触式测量支架，其特征在于：

4.根据权利要求1所述的双导杆接触式测量支架，其特征在于：

5.根据权利要求1所述的双导杆接触式测量支架，其特征在于：

【技术特征摘要】

1.一种双导杆接触式测量支架，包括测头(9)及气缸(14)，其特征在于：

2.根据权利要求1所述的双导杆接触式测量支架，其特征在于：

3.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张辉，张勇，淡军平，吴强，诸毅君，杨东东，张攀，
申请(专利权)人：西安卓越智动科技有限公司，
类型：新型
国别省市：