【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路,特别涉及一种芯片散热结构及封装方法。
技术介绍
1、随着当今封装技术的发展,如今封装正愈发小型化与集成化。由此芯片散热这一问题,在对于产品稳定性与可靠性的改进上,愈发重要,如何做到良好的散热,也是技术研发中需要考虑的问题。当前wb(wi re bond i ng,引线键合)产品的散热方式主要包括如下两种:(1)芯片上侧的散热通过在芯片上侧贴装散热片来实现;(2)芯片下侧的散热通过打孔解决来实现,或者靠裸露芯片下侧的大块铜皮来解决。
2、针对现有技术,打孔进行散热的散热性能较差,并且无法针对热量进行有效传导,而另一种通过裸露大块铜皮进行散热,散热效果也有限。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种芯片散热结构及封装方法,以解决现有技术中,散热性较差的问题。该封装结构中芯片与基板之间通过焊球连接,解决了分层问题,基板中的金属柱和基板正面和背面的焊盘打孔,并且采用金属柱连接散热层与裸露金属层,提高该封装结构的散热能力,使器件在工作过程中能够快速散热。<
...【技术保护点】
1.一种芯片散热结构的封装方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述临时键合薄膜为热塑或热固型有机材料、或含有Cu、Ni、Cr或Co成分的无机材料,所述临时键合薄膜通过加热、机械、化学、激光或冷冻拆除。
3.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述载体为玻璃载片、有机基板、金属基板、陶瓷基板、有机基板与金属基板复合的基板。
4.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述底填为将底部填充材料填充在芯片与导电互连结构之间的空隙。
5.如权
...【技术特征摘要】
1.一种芯片散热结构的封装方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述临时键合薄膜为热塑或热固型有机材料、或含有cu、ni、cr或co成分的无机材料,所述临时键合薄膜通过加热、机械、化学、激光或冷冻拆除。
3.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述载体为玻璃载片、有机基板、金属基板、陶瓷基板、有机基板与金属基板复合的基板。
4.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述底填为将底部填充材料填充在芯片与导电互连结构之间的空隙。
5.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述基板表面具有预先生成的电路。
6.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述将重布线层安置于基板上...
【专利技术属性】
技术研发人员:苏汉强,张景捷,
申请(专利权)人:华进半导体封装先导技术研发中心有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。