一种芯片散热结构及封装方法技术

技术编号:43298922 阅读:58 留言:0更新日期:2024-11-12 16:15
本发明专利技术涉及一种具有散热功能的封装结构及制备方法,包括:基板;第一金属柱,其贯穿所述基板;金属层,其裸露于所述基板背面,并与所述第一金属柱的第一端相连;第一芯片,其背面涂敷有散热介质形成散热层,其背面设置于所述基板正面,并与所述第一金属柱的顶端相连;重布线层,正面安置有所述第一芯片与第二金属柱;第一焊球,将所述第一芯片的正面安装于重布线层的正面;塑封层,其将所述第一芯片与所述第二金属柱塑封,但露出所述第一芯片的背面以及所述第二金属柱的一端;第二焊球,将所述第二金属柱固定在所述基板的正面;第二芯片,通过第三焊球固定在所述重布线层的背面。该封装结构芯片涂敷散热胶,直接与基板内金属柱相连,通过金属柱将热量传导至裸露金属层,提高了该封装结构的散热能力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路,特别涉及一种芯片散热结构及封装方法


技术介绍

1、随着当今封装技术的发展,如今封装正愈发小型化与集成化。由此芯片散热这一问题,在对于产品稳定性与可靠性的改进上,愈发重要,如何做到良好的散热,也是技术研发中需要考虑的问题。当前wb(wi re bond i ng,引线键合)产品的散热方式主要包括如下两种:(1)芯片上侧的散热通过在芯片上侧贴装散热片来实现;(2)芯片下侧的散热通过打孔解决来实现,或者靠裸露芯片下侧的大块铜皮来解决。

2、针对现有技术,打孔进行散热的散热性能较差,并且无法针对热量进行有效传导,而另一种通过裸露大块铜皮进行散热,散热效果也有限。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种芯片散热结构及封装方法,以解决现有技术中,散热性较差的问题。该封装结构中芯片与基板之间通过焊球连接,解决了分层问题,基板中的金属柱和基板正面和背面的焊盘打孔,并且采用金属柱连接散热层与裸露金属层,提高该封装结构的散热能力,使器件在工作过程中能够快速散热。</p>

2、在本本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片散热结构的封装方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述临时键合薄膜为热塑或热固型有机材料、或含有Cu、Ni、Cr或Co成分的无机材料,所述临时键合薄膜通过加热、机械、化学、激光或冷冻拆除。

3.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述载体为玻璃载片、有机基板、金属基板、陶瓷基板、有机基板与金属基板复合的基板。

4.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述底填为将底部填充材料填充在芯片与导电互连结构之间的空隙。

5.如权利要求1所述的芯片散...

【技术特征摘要】

1.一种芯片散热结构的封装方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述临时键合薄膜为热塑或热固型有机材料、或含有cu、ni、cr或co成分的无机材料,所述临时键合薄膜通过加热、机械、化学、激光或冷冻拆除。

3.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述载体为玻璃载片、有机基板、金属基板、陶瓷基板、有机基板与金属基板复合的基板。

4.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述底填为将底部填充材料填充在芯片与导电互连结构之间的空隙。

5.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述基板表面具有预先生成的电路。

6.如权利要求1所述的芯片散热结构的封装方法,其特征在于,所述将重布线层安置于基板上...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏汉强张景捷
申请(专利权)人:华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1