【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测颗粒粒径的装置及其检测方法，具体为一种基于沉降法检测颗粒粒径的装置及其检测方法。
技术介绍
1、颗粒粒径的表征具有重要意义，在产品质量控制、工艺优化、性能预测、研发创新、环境监测等领域都起着关键作用。颗粒粒径表征方法较多，包括筛分法、显微镜法、沉降法、激光衍射法、动态光散射法、电感应法等，每种方法都有其适用范围和优缺点。当前市场中最常用的光学方法包括激光衍射法和动态光散射法，激光衍射法适合测试的粒径范围在几百纳米至几百微米之间，而动态光散射适合测试的粒径范围在几纳米至几百纳米范围内，每种方法的粒径范围都可以在适合的范围内向两端延申一个数量级，但是测试结果准确性的风险度也随之增加。
2、市场中有一类样品，其分布较宽，样品量较少，如磨损或破碎产生的颗粒、部分工业生产中的粗粉和细粉混合物等，主要级分的颗粒为纳米级颗粒，然而样品中存在一定量不超过100μm的大颗粒。如采用基于动态光散射的纳米粒度仪测试，大颗粒的沉降行为会极大的干扰结果的准确性和重复性，如采用基于激光衍射法的激光粒度仪测试，存在样品量不足和散射信...
【技术保护点】
1.一种基于沉降法检测颗粒粒径的装置，其特征在于：包括激光器、光强调节装置、样品池、恒温槽、PD检测器、数据采集卡以及控制单元和PC；
2.根据权利要求1所述的一种基于沉降法检测颗粒粒径的装置，其特征在于：所述样品池为两面透光设计，采用石英玻璃或者K9玻璃材质，采用熔融工艺耐受水性样品和有机性样品；
3.根据权利要求1所述的一种基于沉降法检测颗粒粒径的装置，其特征在于：所述恒温槽通过帕尔贴进行控温，控温精度达到±0.1℃，控温范围在-15℃-120℃范围内；
4.根据权利要求1-3任意项所述的应用一种基于沉降法检测颗粒粒径的装置的检...
【技术特征摘要】
1.一种基于沉降法检测颗粒粒径的装置，其特征在于：包括激光器、光强调节装置、样品池、恒温槽、pd检测器、数据采集卡以及控制单元和pc；
2.根据权利要求1所述的一种基于沉降法检测颗粒粒径的装置，其特征在于：所述样品池为两面透光设计，采用石英玻璃或者k9玻璃材质，采用熔融工艺耐受水性样品和有机性样品；
3.根据权利要求1所述的一种基于沉降法检测颗粒粒径的装置，其特征在于：所述恒温槽通过帕尔贴进行控温，控温精度达到±0.1℃，控温范围在-15℃-120℃范围内；
4.根据权利要求1-3任意项所述的应用一种基于...
【专利技术属性】
技术研发人员：李晓光，李晓旭，杨洪宇，陈权威，宁辉，郑浩，刘岳强，黄才浩，宁宏宇，
申请(专利权)人：丹东百特仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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