【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及不规则表面轮廓的计量领域，尤其涉及一种精确测量物体尺寸的方法、系统及电子设备。
技术介绍
1、测径仪是一种用光线测量工件或材料直径的仪器，现已广泛应用于工业生产中。测径仪广泛运用于电线电缆，漆包线，金属丝，pvc管，以及医疗器械等各种行业。在线检测和离线检测均可，并能实现自动反馈控制以及与电脑的联机通讯。
2、现有的测径仪普遍采用双向测径仪测量，通过光源投影来采集扁平线的宽度和厚度；然而在上述采集方法中，一旦测径仪和扁平线的位置关系发生了改变，如在外力影响下扁平线发生了小幅度翻转，此时，测径仪的投影长度也会跟随发生改变，进而导致其测量结果出现误差。
3、即现有扁平线精确测量技术只能在被测物相对静止时测得准确，当二者发生位置关系的改变，尤其是当被测物小范围翻转时其测量精度则会变得相对较差。
技术实现思路
1、针对现有技术中所存在的不足，本专利技术提供了一种精确测量物体尺寸的方法、系统及电子设备，解决了现有技术中存在的扁平线精确测量技术只能在被测物相对静止时测得准确，当二者发生位置关系的改变，尤其是当被测物小范围翻转时其测量精度则会变得相对较差的问题。
2、本专利技术提供了一种精确测量物体尺寸的方法，包括：
3、将测径仪和/或待测部位沿预设轴线周期性偏摆，以不断改变所述测径仪和所述待测部位的相对位置，并利用所述测径仪的光源投影获取关于所述待测部位的尺寸数据的波形图；
4、从所述波形图中获取一个偏摆周期的目标波形曲
5、根据各所述极值点的分布，从各所述极值点中找到对称极值点，其中，所述对称极值点表征为偏摆过程中所述测径仪和/或待测部位处于拐点时所获取到的尺寸数据；
6、结合所述对称极值点的极性和其余各所述极值点的数量与分布，得到用以表征待测部分尺寸的目标极值点，将所述目标极值点所对应的尺寸数据作为待测部位的尺寸。
7、本专利技术公开提供的技术方案至少具有如下有益效果：
8、通过周期性地获取一个较大偏摆范围内的数据，随后对该数据波形的处理，找到多个极值点，进而确定对应待测部位的尺寸的目标极值点，该方法测量出的数据由于本身就是不断偏摆波动的，即使当扁平线出现了小幅度翻转，体现在采集得到的目标波形曲线上，也仅仅是会出现些许抖动，同时上述偏摆过程也会适应性采集到光源投影正对上述扁平线抖动后的待测部分尺寸的面，并出现新的目标极值点，通过找到该目标极值点，即可获取更精确的结果；
9、较现有技术而言，本专利技术可实现扁平线在一定角度翻滚时，也能找到扁平线的真实测量值，使测量结果更精确。
10、在本专利技术提供的一种精确测量物体尺寸的方法的其中一个实施例中，根据各所述极值点的分布，从各所述极值点中找到对称极值点，包括：
11、依次从所有所述极值点中选择一个极值点作为待定对称极值点，以所述待定对称极值点作为中心，计算其他所有极值点相对于待定对称极值点在分布上的对称性差异值，直至确定每一个所述极值点对应的所述对称性差异值；
12、将对应所述对称性差异值中最小的所述待定对称极值点作为所述对称极值点。
13、本专利技术公开提供的技术方案至少具有如下有益效果：
14、通过依次选取一个极值点，随后计算该极值点对应左右两侧的其他极值点的对称性差异值，即可快速找到偏摆过程中的拐点，以方便后续对目标极值点的寻找。
15、在本专利技术提供的一种精确测量物体尺寸的方法的其中一个实施例中，以所述待定对称极值点作为中心，计算其他所有极值点相对于待定对称极值点在分布上的对称性差异值，包括：
16、以所述待定对称极值点作为中心，计算其他所有极值点所对应的尺寸数据相对于待定对称极值点在分布上的对称性差异值。
17、本专利技术公开提供的技术方案至少具有如下有益效果：
18、由于偏摆过程是周期性的，本专利技术则通过尺寸数据的对称，寻找对称极值点。
19、在本专利技术提供的一种精确测量物体尺寸的方法的其中一个实施例中，以所述待定对称极值点作为中心，计算其他所有极值点相对于待定对称极值点在分布上的对称性差异值，包括：
20、以所述待定对称极值点作为中心，计算其他所有极值点所对应的尺寸数据相对于待定对称极值点在分布上的对称性差异值，作为观测差异值；
21、以所述待定对称极值点作为中心，计算其他所有极值点所对应的时间相对于所述待定对称极值点在分布上的对称性差异值，作为时间差异值；
22、将对应所述对称性差异值中最小的所述待定对称极值点作为所述对称极值点，包括：
23、将对应所述观测差异值中最小且所述时间差异值中最小的所述待定对称极值点作为所述对称极值点。
24、本专利技术公开提供的技术方案至少具有如下有益效果：
25、由于偏摆过程是周期性的，本专利技术则通过尺寸数据和时间的对称，寻找对称极值点。
26、在本专利技术提供的一种精确测量物体尺寸的方法的其中一个实施例中，结合所述对称极值点的极性和其余各所述极值点的数量与分布，得到用以表征待测部分尺寸的目标极值点，将所述目标极值点所对应的尺寸数据作为待测部位的尺寸，包括以下步骤：
27、s1、若满足所述极值点的数量为四个，且在所述目标波形曲线中每个所述极值点对应的波峰或波谷交替排列，则进入步骤s7，否则进入步骤s2；
28、s2、若所述极值点的数量大于四个，则进入步骤s3，否则进入步骤s6；
29、s3、按照时间顺序将各所述极值点排序，若连续两个极值点的极性相同，则删除其中一个极值点，若剩余的极值点的数量为四个或五个，则进入步骤s7，否则进入步骤s4；
30、s4、若所述对称极值点的极性极小值，则进入至步骤s5；
31、s5、将位于所述对称极值点左边、距离最近且极性为极小值的极值点所对应的数据作为第一初始数据，将位于所述对称极值点右边、距离最近且极性为极小值的极值点所对应的数据作为第二初始数据，将所述第一初始数据和所述第二初始数据的平均值作为待测部位的尺寸；
32、s6、若所述极值点的数量为三个，且在所述目标波形曲线中每个所述极值点对应的波峰或波谷交替排列，则进入至步骤s7；
33、s7、将位于所述对称极值点左边、距离最近且极性相反的极值点所对应的数据作为第一初始数据，将位于所述对称极值点右边、距离最近且极性相反的极值点所对应的数据作为第二初始数据，将所述第一初始数据和所述第二初始数据的平均值作为待测部位的尺寸。
34、本专利技术公开提供的技术方案至少具有如下有益效果：
35、采用上述步骤后，可在确定对称极值点之后，根据对称极值点的极性、各极值点的数量和分布情况，快速找到能够对应待测部分尺寸的两个极值点所对应的第一初始数据和第二初始数据，通过计算第一初始数据和第二初始数据的平均值，即可得到准确的待测部位的尺寸。<本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，根据各所述极值点的分布，从各所述极值点中找到对称极值点，包括：
3.根据权利要求2所述的一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，以所述待定对称极值点作为中心，计算其他所有极值点相对于待定对称极值点在分布上的对称性差异值，包括：
4.根据权利要求2所述的一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，以所述待定对称极值点作为中心，计算其他所有极值点相对于待定对称极值点在分布上的对称性差异值，包括：
5.根据权利要求1至4任一项所述的一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，结合所述对称极值点的极性和其余各所述极值点的数量与分布，得到用以表征待测部分尺寸的目标极值点，将所述目标极值点所对应的尺寸数据作为待测部位的尺寸，包括以下步骤：
6.根据权利要求1所述的一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，确定所述目标波形曲线上的所有极值点，包括：
7.根据权利要求1所述的一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，在利用
8.一种精确测量物体尺寸的系统，其特征在于，包括：测径单元和数据处理单元，其中，
9.根据权利要求8所述的一种精确测量物体尺寸的系统，其特征在于，所述测径单元还包括测量部(1)和偏转部(4)，其中，
10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行的程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述的一种精确测量物体尺寸的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，根据各所述极值点的分布，从各所述极值点中找到对称极值点，包括：
3.根据权利要求2所述的一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，以所述待定对称极值点作为中心，计算其他所有极值点相对于待定对称极值点在分布上的对称性差异值，包括：
4.根据权利要求2所述的一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，以所述待定对称极值点作为中心，计算其他所有极值点相对于待定对称极值点在分布上的对称性差异值，包括：
5.根据权利要求1至4任一项所述的一种精确测量物体尺寸的方法，其特征在于，结合所述对称极值点的极性和其余各所述极值点的数量与分布，得到用以表征待测部分尺寸的目标极值点，将所述目标极值点所对应的尺寸数据作为待测部位的...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑健，周鹏，陈汝佳，陈玉平，潘沿丞，
申请(专利权)人：成都曙创大能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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