【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电容测量电路，尤其涉及一种恒流法电容测量电路。
技术介绍
1、随着电子工业的不断发展，电子元器件的应用范围越来越大，所需的电子元器件精度越来越高，在电子产品的控制电路中，电容，电阻和电感是经常用且最基本的元器件，对于不同的电路设计，所需的电子元器件的精度不同。尤其在高频电路环境中，产生的寄生电容会对测量的值产生影响。在现有的电容测量仪器中，大部分采用的测量方法是谐振法，测量精度高，针对不同的电容值采用不同的频率的，在1nf和1pf之间的容值采用的是高频正弦波，测量电容的容值，在大于1nf的电容，采用的是低频正弦波，测量电容的容值，但是，这就要求测量仪器的输出频段的带宽大，大大增加了测量成本。
技术实现思路
1、本技术所要解决的技术问题是提供一种恒流法电容测量电路，以保证测量精度，且无需输出频段的带宽大的测量仪器进行测量，可有效降低测量成本。
2、为解决上述技术问题，本技术的目的是通过以下技术方案实现的：提供一种恒流法电容测量电路，包括mcu、电容充放电模块、波形转换模...
【技术保护点】
1.一种恒流法电容测量电路，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的恒流法电容测量电路，其特征在于，所述第二运算放大器的同相输入端分别经所述第十六电阻和所述第十五电阻后与所述模拟开关芯片的第一挡位输出端和第二挡位输出端相连，所述第二运算放大器的输出端分别与所述第一运算放大器的同相输入端、所述第二运算放大器的反相输入端和所述充放电开关模块相连，所述第二运算放大器的电压负极端电连接有一一端与第一供电电压负极端相连的第十一磁珠，所述第二运算放大器的电压正极端电连接有一一端与第一供电电压正极端相连的第十三磁珠；所述第一运算放大器的电压负极端电连接有一一端与第一...
【技术特征摘要】
1.一种恒流法电容测量电路，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的恒流法电容测量电路，其特征在于，所述第二运算放大器的同相输入端分别经所述第十六电阻和所述第十五电阻后与所述模拟开关芯片的第一挡位输出端和第二挡位输出端相连，所述第二运算放大器的输出端分别与所述第一运算放大器的同相输入端、所述第二运算放大器的反相输入端和所述充放电开关模块相连，所述第二运算放大器的电压负极端电连接有一一端与第一供电电压负极端相连的第十一磁珠，所述第二运算放大器的电压正极端电连接有一一端与第一供电电压正极端相连的第十三磁珠；所述第一运算放大器的电压负极端电连接有一一端与第一供电电压负极端相连的第三磁珠，所述第一运算放大器的电压正极端电连接有一一端与第一供电电压正极相连的第二磁珠，所述第一运算放大器的反相输入端分别与一一端接地的第二电阻及一一端与第二工作电压相连的第一电阻相连，所述第一电阻的两端分别与一第十四电容的两端相连，以使所述第十四电容与所述第一电阻并联，所述第一运算放大器的补偿端经一第十三电容与所述第一运算放大器的输出端相连，所述第一运算放大器的输出端经一第八电阻后分别与所述第二工作电压、所述第一电阻的一端、所述第十四电容的一端及所述模拟开关芯片的控制端相连。
3.根据权利要求2所述的恒流法电容测量电路，其特征在于，所述模拟开关芯片的第一挡位输出端和第二挡位输出端分别与所述第十六电阻的一端和所述第十五电阻的一端相连，所述第十六电阻的另一端和所述第十五电阻的另一端相连后与一第十四电阻的一端相连，所述第十四电阻的另一端经串联的第二十五电阻和第十七电阻后与所述第三运算放大器的同相输入端相连，所述mcu的电容检测正极管脚电连接于所述第二十五电阻和所述第十七电阻之间，所述模拟开关芯片的输入输出管脚与mcu的输入控制管脚相连，所述第十四电阻的另一端与所述第二十五电阻的一端之间电连接有一接地电容，所述接地电容的接地端与所述mcu的电容激励负极管脚相连，所述接地电容的另一端与所述mcu的电容激励正极管脚相连。
4.根据权利要求3所述的恒流法电容测量电路，其特征在于，所述第三运算放大器的输出端分别与所述第三运算放大器的反相输入端、所述第一比较器的反相输入端和所述第二比较器的同相输入端相连，所述第三运算放大器的反相输入端经一第十九电阻后与所述第三运算放大器的输出端相连，所述第三运算放大器的反相输入端经一第十八电阻后与所述mcu的电容检测负极管脚相连。
5.根据权利要求2所述的恒流法...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴伟豪，高洪波，
申请(专利权)人：中山市迅科达智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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