【技术实现步骤摘要】
本技术有关于一种测试平台及电测试机构，且特别是关于一种能够切换匹配待测元件特定尺寸的定位口的测试平台及电测试机构。
技术介绍
1、传统电测试机构通过下压件将待测元件(例如电感l、电容c、电阻r)按压至载台上，使得待测元件的脚位能够紧密地接触载台的电极接点，从而提供后端系统进行电测试。此外，电测试机构能够针对多种不同型号的待测元件进行单独测试。每当阻抗量测机构改为测试另个不同型号的待测元件时，为了让下压件能够有效压迫这个不同型号的待测元件，使用者需要改变载台的配置方位，使得待测元件移至下压件下方的有效位置。
2、然而，由于电测试机构的载台内部包含许多复杂且彼此层叠的组件，为了改变载台的配置方位，使用者必须将载台内部的这些组件依序取出、接着依序旋转方位，再依序装回载台内，如此，不仅相当耗时与费力，又可能因为错误安装，导致待测元件的损伤，如此，不仅相当耗时与费力，又可能因为错误安装，导致待测元件的损伤。
3、由此可见，上述技术显然仍存在不便与缺陷，而有待加以进一步改良。因此，如何有效地寻找一种解决方案，以克服上述不便与...
【技术保护点】
1.一种测试平台，其特征在于，包含：
2.如权利要求1所述的测试平台，其特征在于，还包含：
3.如权利要求2所述的测试平台，其特征在于，还包含：
4.如权利要求2所述的测试平台，其特征在于，还包含：
5.如权利要求1所述的测试平台，其特征在于，其中该对位垫片还包含多个传动孔，所述多个传动孔分别形成于该狭长片体上，沿该直线方向等距地线性排列。
6.如权利要求5所述的测试平台，其特征在于，其中该传动装置包含：
7.如权利要求5所述的测试平台，其特征在于，其中该对位垫片还包含多个对位符号，所述多个对位符...
【技术特征摘要】
1.一种测试平台，其特征在于，包含：
2.如权利要求1所述的测试平台，其特征在于，还包含：
3.如权利要求2所述的测试平台，其特征在于，还包含：
4.如权利要求2所述的测试平台，其特征在于，还包含：
5.如权利要求1所述的测试平台，其特征在于，其中该对位垫片还包含多个传动孔，所述多个传动孔分别形成于该狭长片体上，沿该直线方向等距地线性排列。
6.如权利要求5所述的测试平台，其特征在于，其中该传动装置包含：
7.如权利要求5所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：柯廷翰，曾建儒，刘崇琳，黄振坤，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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