一种PZT光纤相位调制器的相位调制系数测量装置制造方法及图纸

本技术公开了一种PZT光纤相位调制器的相位调制系数测量装置，包括激光器、M‑Z干涉仪、用以向M‑Z干涉仪中的光纤相位调制器施加电压以使光纤长度产生变化的三角波驱动源、用以检测M‑Z干涉仪输出的光的光强变化的光电探测器、以及用以显示光强变化波形的示波器。本技术通过在M－Z干涉仪一臂上的PZT光纤相位调制器施加三角波驱动电压，从而使两臂干涉处的干涉光的强度随电压线性增加而变化，根据示波器上看到呈正弦波的光强可以快速准确的计算处相位调制系数。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光纤通信，尤其涉及一种pzt光纤相位调制器的相位调制系数测量装置。

技术介绍

1、光纤干涉仪因其抗电磁干扰，电绝缘，灵敏度高，测量对象广泛，质量轻，体积小等特点，已经被广泛地应用于传感和测量领域。而其中以相位作为被测物理量的光纤相位传感器又具有高精度和大的动态范围等优点，在测量压力、温度、位移、电磁场、声场等中被广泛应用。因此在这些光纤干涉仪构成的传感器中，对相位的测量至关重要。目前常用的检测技术中，普遍使用压电陶瓷(pzt)相位调制器，它既能用于光纤干涉仪中，对外部环境扰动进行补偿以提高稳定性；又能用于超外差干涉系统中，对光相移进行灵敏而线性的检测。因此，压电陶瓷相移参数的测定是其中的关键。如今测定压电陶瓷相移参数的方法主要可分为两种，一种是根据弹性学理论，由弹性材料的应力应变关系式进行理论分析，得到理论上压电陶瓷的电压值和光纤中光信号相位变化的关系；另一种是利用光纤干涉仪的出射光强来判断两干涉臂的相位差，从而确定压电陶瓷的相移系数，但这两种方法操作起来很麻烦，且测量稳定度不足，测量精度不高。

技术实现思路

1、有鉴于此，本技术提供了一种pzt光纤相位调制器的相位调制系数测量装置，用以解决上述
技术介绍
中存在的问题。

2、一种pzt光纤相位调制器的相位调制系数测量装置，包括激光器、m-z干涉仪、用以向m-z干涉仪中的光纤相位调制器施加电压以使光纤长度产生变化的三角波驱动源、用以检测m-z干涉仪输出的光的光强变化的光电探测器、以及用以显示光强变化波形的示波器，所述激光器的输出端与m-z干涉仪的输入端相连，m-z干涉仪的输出端与光电探测器的输入端相连，光电探测器的输出端与示波器的输入端相连。

3、优选地，所述m-z干涉仪包括第一光分路器、第二光分路器和pzt光纤相位调制器，第一分光路器的输入端与激光器的输出端相连，第一分光路器的一个分光臂与第二光分路器的输入端相连、另一分光臂与pzt光纤相位调制器的输入端相连，pzt光纤相位调制器的输出端与第二光分路器的一个分光臂相连，激光器发出的光经第一光分路器分成两路，其中一路光直接传输至第二光分路器、另一路光经pzt光纤相位调制器传输至第二光分路器，两路分光束在第二光分路器的两臂耦合处产生光的干涉。

4、优选地，所述第一光分路器和第二光分路器均为等分光比的1×2光分路器。

5、优选地，所述激光器为窄线宽激光器。

6、优选地，所述示波器上显示的光强变化波形为正弦波。

7、本技术的有益效果是：

8、本技术通过在m－z干涉仪一臂上的pzt光纤相位调制器施加三角波驱动电压，从而使两臂干涉处的干涉光的强度随电压线性增加而变化，根据示波器上看到呈正弦波的光强可以快速准确的计算处相位调制系数，同时也可以减小测量波动误差，提高测量精度。

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【技术保护点】

1.一种PZT光纤相位调制器的相位调制系数测量装置，其特征在于，包括激光器、M-Z干涉仪、用以向M-Z干涉仪中的光纤相位调制器施加电压以使光纤长度产生变化的三角波驱动源、用以检测M-Z干涉仪输出的光的光强变化的光电探测器、以及用以显示光强变化波形的示波器，所述激光器的输出端与M-Z干涉仪的输入端相连，M-Z干涉仪的输出端与光电探测器的输入端相连，光电探测器的输出端与示波器的输入端相连。

2.根据权利要求1所述的PZT光纤相位调制器的相位调制系数测量装置，其特征在于，所述M-Z干涉仪包括第一光分路器、第二光分路器和PZT光纤相位调制器，第一分光路器的输入端与激光器的输出端相连，第一分光路器的一个分光臂与第二光分路器的输入端相连、另一分光臂与PZT光纤相位调制器的输入端相连，PZT光纤相位调制器的输出端与第二光分路器的一个分光臂相连，激光器发出的光经第一光分路器分成两路，其中一路光直接传输至第二光分路器、另一路光经PZT光纤相位调制器传输至第二光分路器，两路分光束在第二光分路器的两臂耦合处产生光的干涉。

3.根据权利要求2所述的PZT光纤相位调制器的相位调制系数测量装置，其特征在于，所述第一光分路器和第二光分路器均为等分光比的1×2光分路器。

4.根据权利要求1所述的PZT光纤相位调制器的相位调制系数测量装置，其特征在于，所述激光器为窄线宽激光器。

5.根据权利要求1所述的PZT光纤相位调制器的相位调制系数测量装置，其特征在于，所述示波器上显示的光强变化波形为正弦波。

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【技术特征摘要】

1.一种pzt光纤相位调制器的相位调制系数测量装置，其特征在于，包括激光器、m-z干涉仪、用以向m-z干涉仪中的光纤相位调制器施加电压以使光纤长度产生变化的三角波驱动源、用以检测m-z干涉仪输出的光的光强变化的光电探测器、以及用以显示光强变化波形的示波器，所述激光器的输出端与m-z干涉仪的输入端相连，m-z干涉仪的输出端与光电探测器的输入端相连，光电探测器的输出端与示波器的输入端相连。

2.根据权利要求1所述的pzt光纤相位调制器的相位调制系数测量装置，其特征在于，所述m-z干涉仪包括第一光分路器、第二光分路器和pzt光纤相位调制器，第一分光路器的输入端与激光器的输出端相连，第一分光路器的一个分光臂与第二光分路器的输入端相连、另一分光臂与pzt光...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱洪卫，谢丰权，周航宇，徐冬，刘飘，
申请(专利权)人：上海波汇科技有限公司，
类型：新型
国别省市：