一种孔轴线采集辅助工具制造技术

技术编号:43112890 阅读:21 留言:0更新日期:2024-10-26 09:52
本发明专利技术公开了一种孔轴线采集辅助工具,涉及机械加工技术领域,包括开槽测头以及撑开件,开槽测头用于伸进待测孔中,开槽测头的中央开设有贯穿孔,贯穿孔的轴线与开槽测头的轴线重合,开槽测头上具有测量缺口部,测量缺口部贯穿缺口,贯穿缺口使贯穿孔与开槽测头的外部连通,测量缺口部具有第一测量面以及第二测量面,第一测量面所在平面与第二测量面所在平面相交于开槽测头的轴线处;撑开件用于伸进贯穿孔内,撑开件能够将开槽测头撑开,以使开槽测头的外周侧壁紧贴于待测孔的内壁上;本发明专利技术操作简单,测量精确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机械加工,特别是涉及一种孔轴线采集辅助工具


技术介绍

1、如图1所示,螺旋桨整流罩中的安装盘、支撑盘等薄壁零件上经常会设置空间孔,以用于铆接或安装使用,在三坐标法测量孔的圆周角度及倾斜角度时,此类空间孔受壁厚影响,孔深度不够,无法准确采集孔轴线,因此急需一种操作简单、测量精确的孔轴线采集辅助工具。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种孔轴线采集辅助工具,以解决上述现有技术存在的问题,操作简单,测量精确。

2、为实现上述目的,本专利技术提供了如下方案:

3、本专利技术提供一种孔轴线采集辅助工具,包括开槽测头以及撑开件,所述开槽测头用于伸进待测孔中,所述开槽测头的中央开设有贯穿孔,所述贯穿孔的轴线与所述开槽测头的轴线重合,所述开槽测头上具有测量缺口部,所述测量缺口部贯穿缺口,所述贯穿缺口使所述贯穿孔与所述开槽测头的外部连通,所述测量缺口部具有第一测量面以及第二测量面,所述第一测量面所在平面与所述第二测量面所在平面相交于所述开槽测头的轴线处;所述撑开件用于伸进所述贯穿本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种孔轴线采集辅助工具,其特征在于:包括开槽测头以及撑开件,所述开槽测头用于伸进待测孔中,所述开槽测头的中央开设有贯穿孔,所述贯穿孔的轴线与所述开槽测头的轴线重合,所述开槽测头上具有测量缺口部,所述测量缺口部贯穿缺口,所述贯穿缺口使所述贯穿孔与所述开槽测头的外部连通,所述测量缺口部具有第一测量面以及第二测量面,所述第一测量面所在平面与所述第二测量面所在平面相交于所述开槽测头的轴线处;所述撑开件用于伸进所述贯穿孔内,所述撑开件能够将所述开槽测头撑开,以使所述开槽测头的外周侧壁紧贴于所述待测孔的内壁上。

2.根据权利要求1所述的孔轴线采集辅助工具,其特征在于:所述撑开件包括螺...

【技术特征摘要】

1.一种孔轴线采集辅助工具,其特征在于:包括开槽测头以及撑开件,所述开槽测头用于伸进待测孔中,所述开槽测头的中央开设有贯穿孔,所述贯穿孔的轴线与所述开槽测头的轴线重合,所述开槽测头上具有测量缺口部,所述测量缺口部贯穿缺口,所述贯穿缺口使所述贯穿孔与所述开槽测头的外部连通,所述测量缺口部具有第一测量面以及第二测量面,所述第一测量面所在平面与所述第二测量面所在平面相交于所述开槽测头的轴线处;所述撑开件用于伸进所述贯穿孔内,所述撑开件能够将所述开槽测头撑开,以使所述开槽测头的外周侧壁紧贴于所述待测孔的内壁上。

2.根据权利要求1所述的孔轴线采集辅助工具,其特征在于:所述撑开件包括螺栓及螺母,所述螺栓上依次为头部、杆部及螺纹部,所述头部的直径大于所述杆部的直径,所述头部与所述杆部的连接处为锥部,所述锥部自所述头部逐渐收缩于所述杆部,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:张晓光魏亚康张朋辉
申请(专利权)人:惠阳航空螺旋桨有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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