【技术实现步骤摘要】
本申请涉及空间粒子探测,具体而言,涉及一种空间粒子探测设备、空间粒子探测方法和卫星。
技术介绍
1、目前,空间粒子探测器的功能是获取空间中分布着各种高能粒子的能量,并鉴别粒子的种类。但空间粒子探测器的体积较大,无法放置到尺寸较小且空间比较紧凑的卫星(如:重量为10至100公斤(kg)的微型卫星)中使用。
技术实现思路
1、为解决上述问题,本申请实施例的目的在于提供一种空间粒子探测设备、空间粒子探测方法和卫星。
2、第一方面,本申请实施例提供了一种空间粒子探测设备,包括:设备外壳以及容纳在所述设备外壳内的空间粒子探测器;
3、所述空间粒子探测器,包括:第一前置放大电路、第二前置放大电路、第三前置放大电路、第一隔离围挡、第二隔离围挡、第一硅探测器、第二硅探测器、第三硅探测器、控制电路板、以及电源电路板;
4、所述第一前置放大电路位于所述设备外壳的底部;
5、所述第一前置放大电路、所述第一隔离围挡、所述第二前置放大电路、所述第二隔离围挡、所述第三前
...【技术保护点】
1.一种空间粒子探测设备,其特征在于,包括:设备外壳以及容纳在所述设备外壳内的空间粒子探测器;
2.根据权利要求1所述的空间粒子探测设备,其特征在于,所述设备外壳,包括:外壳底板、外壳中框以及外壳盖板;
3.根据权利要求1所述的空间粒子探测设备,其特征在于,还包括:通信接口;
4.根据权利要求1所述的空间粒子探测设备,其特征在于,当所述高能粒子入射到所述第一硅探测器时,所述第一硅探测器上会形成入射的高能粒子的自由带电离子;
5.根据权利要求1所述的空间粒子探测设备,其特征在于,当所述高能粒子入射到所述第二硅探测器时,所述
...【技术特征摘要】
1.一种空间粒子探测设备,其特征在于,包括:设备外壳以及容纳在所述设备外壳内的空间粒子探测器;
2.根据权利要求1所述的空间粒子探测设备,其特征在于,所述设备外壳,包括:外壳底板、外壳中框以及外壳盖板;
3.根据权利要求1所述的空间粒子探测设备,其特征在于,还包括:通信接口;
4.根据权利要求1所述的空间粒子探测设备,其特征在于,当所述高能粒子入射到所述第一硅探测器时,所述第一硅探测器上会形成入射的高能粒子的自由带电离子;
5.根据权利要求1所述的空间粒子探测设备,其特征在于,当所述高能粒子入射到所述第二硅探测器时,所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员:钟时,魏延清,高雄伟,刘泽环,牛雨萌,史旺林,李波,
申请(专利权)人:北京紫微宇通科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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