测试电路、阵列基板和显示装置制造方法及图纸

本申请公开了一种测试电路、阵列基板和显示装置，其中，测试电路包括第一连接线、测试信号线和第一开关管；第一连接线用于接收第一控制信号；测试信号线用于接收测试信号；第一开关管的第一端与第一连接线连接，第一开关管的第二端与测试信号线连接，第一开关管的第三端与阵列基板中的像素阵列连接；第一开关管用于根据第一控制信号导通时将测试信号输入至像素阵列；本申请能够直接排查阵列基板中显示区域的线路异常情况，进而提高检修效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及显示器件，具体涉及一种测试电路、阵列基板和显示装置。

技术介绍

1、当前的阵列基板无论是lcd(liquid crystal display，液晶显示屏)还是oled(organic light-emitting diode，有机电激光显示)技术，均在阵列基板设计中引入了goa(gate on array，阵列基板上栅驱动集成)技术，这样的设计不仅可以使面板窄边框化，更重要的是节省了栅极驱动芯片的成本，使得产品更具竞争力。

2、不同公司的栅极驱动电路不同，不同的产品也会采用不同的栅极驱动电路设计，但无论是哪种电路设计，均不可避免地会因为膜层残留或esd(electrostatic discharge，静电放电)等原因使goa级传功能失效而使该片产品变为不良品；也有可能是因为显示区域即aa区域的线路异常导致goa级传功能失效。而目前针对goa级传失效的原因排查，并不能够首先直接排查出是否是因为aa区的线路异常导致goa级传功能失效，由此导致检修效率低。

技术实现思路

1、本申请提供一种测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试电路，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括：

3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第三开关管，所述第三开关管的第一端与所述第一连接线连接，所述第三开关管的第二端与所述测试信号线连接，所述第三开关管的第三端与所述阵列基板中的像素阵列连接；所述第三开关管用于根据所述第一控制信号导通时将所述测试信号输入至所述像素阵列。

4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第四开关管，所述第四开关管的第一端与所述第二连接线连接，所述第四开关管的第二端与所述栅极驱...

【技术特征摘要】

1.一种测试电路，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括：

3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第三开关管，所述第三开关管的第一端与所述第一连接线连接，所述第三开关管的第二端与所述测试信号线连接，所述第三开关管的第三端与所述阵列基板中的像素阵列连接；所述第三开关管用于根据所述第一控制信号导通时将所述测试信号输入至所述像素阵列。

4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第四开关管，所述第四开关管的第一端与所述第二连接线连接，所述第四开关管的第二端与所述栅极驱动电路连接，所述第四开关管的第三端与所述像素阵列连接；所述第四开关管用于根据所述第二控制信号导通时将所述栅极驱动电路输出的驱动信号输入至所述像素阵列...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘超凡，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：新型
国别省市：