【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及位移检测，尤其涉及一种受光校准检测装置。
技术介绍
1、现有技术的位移检测装置，包括激光发射器和受光电路板，受光电路板上设置有多个呈阵列排布的光敏元件，两者分别固定在不同的物体上，激光发射器发射的光束垂直的照射在受光电路板上形成光点，受光电路板上的光敏元件能够感检测到光点在受光电路板上的位置，当两个物体发生相对偏移时，光点在受光电路板上的位置将发生变化，与受光电路板电性连接的扫描电路板能够计算出偏移的数值。但是，激光发射器发出的激光束会逐渐发散，激光发射器距离手受光电路板越远，光点的直径越大，导致测量出的偏移数值较实际值偏大。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的技术问题，是针对上述存在的技术不足，提供了一种受光校准检测装置，测量出的偏移数值与实际值之间的偏差较小。
2、为解决上述技术问题，本专利技术所采用的技术方案是：一种受光校准检测装置，包括第一底座和第二底座，所述第一底座上设置有光源，所述第二底座上设置有受光电路板，所述受光电路板上设置有多个呈阵列分布的光...
【技术保护点】
1.一种受光校准检测装置，包括第一底座(1)和第二底座(2)，所述第一底座(1)上设置有光源(3)，所述第二底座(2)上设置有受光电路板(5)，所述受光电路板(5)上设置有多个呈阵列分布的光敏元件，所述受光电路板(5)电性连接有扫描电路板(6)，其特征在于：所述第一底座(1)上还设置有遮光板(4)，所述遮光板(4)位于光源(3)和受光电路板(5)之间，所述遮光板(4)上设置有通孔(41)，所述通孔(41)的延伸方向垂直于受光电路板(5)，所述通孔(41)的直径不大于1毫米。
2.根据权利要求1所述的一种受光校准检测装置，其特征在于：所述通孔(41)的数量不...
【技术特征摘要】
1.一种受光校准检测装置，包括第一底座(1)和第二底座(2)，所述第一底座(1)上设置有光源(3)，所述第二底座(2)上设置有受光电路板(5)，所述受光电路板(5)上设置有多个呈阵列分布的光敏元件，所述受光电路板(5)电性连接有扫描电路板(6)，其特征在于：所述第一底座(1)上还设置有遮光板(4)，所述遮光板(4)位于光源(3)和受光电路板(5)之间，所述遮光板(4)上设置有通孔(41)，所述通孔(41)的延伸方向垂直于受光电路板(5)，所述通孔(41)的直径不大于1毫米。
2.根据权利要求1所述的一种受光校准检测装置，其特征在于：所述通孔(41)的数量不少于两个，通过所有通孔(41)的光束中的至少一个能够照射在光敏元件上。
3.根据权利要求1所述的一种受光校准检测装置，其特征在于：所述光源(3)为激光发射器或者灯具。
4.根据权利要求2所述的一种受光校准检测装置，其特征在于：所述光源(3)为激光发射器，所述激光发射器的数量等于通孔(41)的数量，一个激光发射器与且只与一个通孔(41)同轴。
5.根据权利要求1-4任意一项所述的一种受光校准检测装置，其特征在于：所述扫描电路板(6)还电性连接有信号传输控制板，信号传输电路板控制光源(3)打开或者关闭，当完成一次信号采集时将数据通过4gnblora5g等通讯方式传至云平台或者计算机。
6.根据权利要求1-4任意一项所述的一种受光校准检测装置，其特征在于：所述受光电路板(5)在光敏元件的底面和一侧都设置有焊盘，所述光敏元件焊接...
【专利技术属性】
技术研发人员：王锋，
申请(专利权)人：烯驰科技河北有限公司，
类型：发明
国别省市：
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