定位点的生成方法、装置和计算机设备制造方法及图纸

技术编号:43043497 阅读:29 留言:0更新日期:2024-10-22 14:29
本申请涉及一种定位点的生成方法、装置和计算机设备。所述方法包括:获取目标图像;其中,所述目标图像包括芯片的图像以及载台纹理的图像;确定所述目标图像中芯片的初始定位点;在所述初始定位点的像素值不符合预设阈值的情况下,以所述初始定位点为中心,预设的距离阈值为间隔依次查找,得到所述初始定位点对应的像素值符合预设阈值的替换定位点;利用所述替换定位点,对所述初始定位点进行替换,得到目标定位点;其中,所述目标定位点用于定位所述芯片。采用本方法能够提高生成定位点的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及机器视觉,特别是涉及一种定位点的生成方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。


技术介绍

1、随着半导体制造技术的进步,出现了利用高倍相机对透明晶圆进行拍摄和加工的新技术。然而在加工过程中,由于热胀冷缩等因素,晶圆的位置可能会发生偏移。为了解决这一问题,工程师们采用了图像识别定位晶圆确定晶圆的行列坐标,以纠正因加工造成的位置偏移。

2、然而,在对晶圆进行加工时,外界因素可能会影响晶圆边框的识别准确性。因此,参考图1所示,通常会使用广角相机来确定晶圆的纠偏点(图1中的黑点),并基于此将高倍相机精确定位到晶圆位置(灰色填充部分)。然而,这种方法可能受到载台气路纹理(灰色线条)对纠偏点的干扰,从而影响晶圆的定位精度。

3、在现有技术中,通常会在晶圆的顶部增加一个白色或近红外点光源,同时结合载台的背光源,以提高晶圆与气路纹理之间的对比度,从而进一步降低载台气路纹理对纠偏点的干扰。然而,这种方式硬件成本极高,且无法完全消除载台气路纹理带来的干扰,导致识别异常的报警率依然较高。


技术实现思路本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种定位点的生成方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述初始定位点的像素值不符合预设阈值的情况下,以所述初始定位点为中心,预设的距离阈值为间隔依次查找,得到所述初始定位点对应的像素值符合预设阈值的替换定位点,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述目标图像中芯片的初始定位点,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取目标图像包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标图像包括广角相机下的图像;所述定位点包括定位点在所述目标图像中的第一坐标信...

【技术特征摘要】

1.一种定位点的生成方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述初始定位点的像素值不符合预设阈值的情况下,以所述初始定位点为中心,预设的距离阈值为间隔依次查找,得到所述初始定位点对应的像素值符合预设阈值的替换定位点,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述目标图像中芯片的初始定位点,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取目标图像包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标图像包括广角相机下的图像;所述定位点包括定位点在所述目标图像中的第一坐标信息;所述利用所述替换定位点,对所述初始定位点进...

【专利技术属性】
技术研发人员:张志强裴兴环陈万群王正根
申请(专利权)人:迈为技术珠海有限公司
类型:发明
国别省市:

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