具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及深低温环境试验技术领域，尤其涉及一种具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，包括防护舱、光学玻璃、光谱仪、加热组件、隔热件和开合机构；防护舱能够将光谱仪等测量设备与深低温环境隔离。光谱仪用于对试验对象的光谱特性进行精确的测量。加热组件用于调整容纳腔内温度至常温，以保障光谱仪正常工作。在试验对象随深低温环境降温时，隔热件能够充分遮蔽光学玻璃，隔断光学玻璃产生的热辐射，进而有利于试验对象降温至预定的深度低温。而在测量阶段，可定期移除隔热件，使光学玻璃暴露，进而使光谱仪能够对试验对象进行光谱测量。如此，在避免光学玻璃的内表面发生结露的前提下，可使试验对象降温至预定的深度低温。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及深低温环境试验，尤其涉及一种具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置。

技术介绍

1、随着我国月球无人探测技术的发展，月面探测器逐渐需要在月表进行更多精密的操作。如在月表进行钻取、表取以及样本封装等操作。操作期间，需要对深低温环境下的月壤进行精确识别。因此，有必要在地面模拟环境下对月壤(或模拟月壤)的光学特性等进行测量。

2、在地面试验中，一般采用多种真空泵相配合的形式，产生0.001pa量级的真空环境，通过充满液氮的辐射换热器，初步构建100k的低温背景。在空间环境模拟容器的内部通过氦压缩和膨胀的方式对辐射换热器进行冷却，构建20k左右的深低温背景。当试验对象(如月壤等)逐渐降温达至40k左右时，通过光谱仪等设备对试验对象进行多次测量。由于光谱仪等测量设备均为电子设备，仅能适用于常温常压工况，因此，需使用防护舱对光谱仪等测量设备进行密封。防护舱为筒状，一端安装有光学玻璃。防护舱内呈常温常压状态，保障光谱仪等测量设备能够正常工作。经实测，光学玻璃可到达200k以上。由于辐射换热的四次方关联，导致了光学玻璃对试验对象带来了极大的附本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，其特征在于，所述隔热件由多层高反射膜依次叠设而成。

3.根据权利要求1所述的具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，其特征在于，所述光学玻璃镀有减反射膜。

4.根据权利要求1至3任一项所述的具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，其特征在于，所述加热组件包括：

5.根据权利要求1至3任一项所述的具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，其特征在于，还包括：

6.根据权利要求5所述的...

【技术特征摘要】

1.一种具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，其特征在于，所述隔热件由多层高反射膜依次叠设而成。

3.根据权利要求1所述的具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，其特征在于，所述光学玻璃镀有减反射膜。

4.根据权利要求1至3任一项所述的具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，其特征在于，所述加热组件包括：

5.根据权利要求1至3任一项所述的具有低背景热流特性的深低温环境光谱测量装置，其特征在于，还包括：

【专利技术属性】
技术研发人员：陶东兴，李西园，郭子寅，林博颖，费泽林，曹正彬，高文，尉航航，
申请(专利权)人：北京卫星环境工程研究所，
类型：发明
国别省市：