一种抑制原料挥发并收集挥发物的GaSb晶体生长装置制造方法及图纸

技术编号:43001350 阅读:27 留言:0更新日期:2024-10-15 13:28
本发明专利技术提供了一种抑制原料挥发并收集挥发物的GaSb晶体生长装置,解决目前GaSb晶体生长过程中存在原料挥发,以及目前抑制原料挥发方式效果有限的技术问题。本发明专利技术通过设计石英管覆盖件、挥发物收集组件以及保温组件,共同配合,减少原料挥发,并将少部分已挥发的原料进行积极回收,避免挥发出的原料会沉积到水冷的炉体上,造成污染;同时,也避免封闭石英观察窗造成实验人员无法实时观测晶体生长炉内部情况。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于晶体生长装置,具体涉及一种抑制原料挥发并收集挥发物的gasb晶体生长装置。


技术介绍

1、iii-v族化合物半导体材料gasb是制备红外探测器、红外激光器和红外热光伏电池等光电器件的理想衬底材料。

2、目前最为广泛使用的gasb体晶生长方法是液封直拉法。液封直拉法生长gasb体晶的流程如下:首先把由高纯的ga原料和sb原料合成的gasb多晶料放置在热解氮化硼陶瓷(pbn)坩埚中,置于由电磁感应加热器构成的温场中;控制加热器的功率升至过热温度使gasb多晶料熔化,通过电机控制坩埚底部支撑匀速旋转使gasb充分均匀化;控制加热器功率使gasb多晶料界面温度为gasb熔点712℃左右,把gasb籽晶通过坩埚顶部籽晶杆伸入gasb多晶料中;预热一段时间之后,通过坩埚顶部提拉旋转装置使籽晶以一定的提拉速度和旋转速度向上提拉,籽晶和熔体在交界面上不断进行原子或分子的重新排列,随降温逐渐凝固而生长出gasb单晶体。

3、在gasb的熔点附近,sb的饱和蒸气压为3.6×10-6torr。熔料时的过热温度约1000℃左右,sb的饱和蒸气本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

2.根据权利要求1所述抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

3.根据权利要求1或2所述抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

4.根据权利要求3所述抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

5.根据权利要求4所述抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

6.根据权利要求5所述抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

7.根据权利要求6所述抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:<...

【技术特征摘要】

1.一种抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

2.根据权利要求1所述抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

3.根据权利要求1或2所述抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

4.根据权利要求3所述抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

5.根据权利要求4所述抑制原料挥发并收集挥发物的晶体生长装置,其特征在于:

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【专利技术属性】
技术研发人员:陈建全于晖刘宏广余海文徐凌燕介万奇
申请(专利权)人:西北工业大学
类型:发明
国别省市:

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