一种基于AOI和AI的液晶面板用检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于AOI和AI的液晶面板用检测方法，包括如下步骤：S1.AOI检测单元对待检测的产品进行AOI检测，自动筛选出初筛良品和初筛不良品；S2.AI检测单元对S1中筛选出的初筛不良品进行AI检测，自动筛选出二筛良品和二筛不良品；S3.步骤S1和S2中的二筛不良品由人工进行复检，检测是否还有良品。本发明专利技术先通过AOI检测单元对产品进行初筛良品和初筛不良品的筛选，然后针对初筛不良品再次进行AI检测单元的二次筛选，在AI检测单元中，通过训练包含分类分支的Encoder‑Decoder模型再配合获得的掩模图来输出模型预测的缺陷类型，从而能避免初筛不良品中由于存在未知的缺陷而导致AOI无法识别后误检为不良品，提高检测精度，同时降低过检率和漏检率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及属于液晶面板的检测，尤其涉及一种基于aoi和ai的液晶面板用检测方法。

技术介绍

1、随着电子技术及制造技术的发展，液晶面板的密度日趋增加，随之而来的是液晶面板的检测也愈加困难，导致传统人工检测方法不再可行，无论从检测速度、效率和成本控制方面都不能令人满意。

2、目前，对液晶面板检测的方式为大多先通过aoi进行检测，然后再进行人工检测，最后由人工检测出良品和不良品，这样虽然提高了一定的检测效率，但是由于aoi检测时的检测参数依靠技术员设定，对未知的液晶面板不良缺陷没有警示；其次，检测效果的两个指标，即过检率和漏检率，很难达到最佳平衡点，故只靠aoi和人工来对液晶面板中的良品和不良品进行筛选，已经无法满足实际的使用需求。

技术实现思路

1、本专利技术目的是为了克服现有技术的不足而提供一种基于aoi和ai的液晶面板用检测方法，操作方便，漏检率和过检率低，检测效率高，满足了实际的使用需求。

2、为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是：一种基于aoi和ai的液晶面板用检测方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于AOI和AI的液晶面板用检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.如权利要求1所述的基于AOI和AI的液晶面板用检测方法，其特征在于：所述AI检测单元的检测方法包括如下：

3.如权利要求1所述的基于AOI和AI的液晶面板用检测方法，其特征在于：所述S20的步骤如下所述：

4.如权利要求1所述的基于AOI和AI的液晶面板用检测方法，其特征在于：在步骤S3中增加视觉检测系统来辅助人工进行作业。

5.如权利要求1所述的基于AOI和AI的液晶面板用检测方法，其特征在于：所述步骤S3中增加一个计数器来自动进行良品数量的计数。

【技术特征摘要】

1.一种基于aoi和ai的液晶面板用检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.如权利要求1所述的基于aoi和ai的液晶面板用检测方法，其特征在于：所述ai检测单元的检测方法包括如下：

3.如权利要求1所述的基于aoi和ai的液晶面板用检测方法，其特征在于：所述s20...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐思雷，
申请(专利权)人：晶端显示精密电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：