一种杜瓦组件热负载和热质量的测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种杜瓦组件热负载和热质量的测试方法及装置，属于杜瓦热负载测试技术领域；包括步骤S1，将待测试杜瓦组件倒置于固定工装上；步骤S2，通过数字万用表测试位于待测试杜瓦组件内部的电阻加热片在未通电条件下，待测试杜瓦组件的焦平面从液氮温度下开始的第一升温速率；步骤S3，通过数字万用表测试电阻加热片在通电条件下，待测试杜瓦组件的焦平面从液氮温度下开始的第二升温速率；步骤S4，通过上位机输出热负载和热质量。上述技术方案的有益效果是：能够精确测量不同焦平面温度下的杜瓦热负载和热质量，满足实际测试要求，避免了杜瓦表面结霜或液氮沸腾起泡等现象，测试精度高，无需反复测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及杜瓦热负载测试，尤其涉及一种杜瓦组件热负载和热质量的测试方法及装置。

技术介绍

1、热负载和热质量是制冷红外探测器杜瓦组件的关键性能参数，热负载可以反映杜瓦组件与外界交换热量的能力及其真空状况，热质量是影响探测器制冷时间的重要因素。《微型杜瓦总规范》(sj 20784-2000)中规定通过测量液氮损耗速率来计算杜瓦热负载，该方法是目前行业内的通用方法。而关于杜瓦热质量，行业内尚无统一且通用的测试方法，目前大都采用仿真或理论计算的方式进行估算或单独测算各零部件热质量后求和。

2、在现有技术中，在热负载测试方面主要有以下缺陷：一是测试温度点单一。由于液氮温度为77k，因此目前技术仅能测试当红外焦平面在77k时的杜瓦组件热负载。而随着红外器件技术的发展，红外焦平面工作温度可提升至150k以上，导致无法满足实际测试要求。二是测试环境温度固定。现有技术采用分析天平进行测试，通常仅在室温条件下(约298k)进行，而实际上在产品服役过程中，其所处环境温度可能高达330k以上，测试结果已不能反映杜瓦组件的实际工作时的热负载。三是测试稳定性不佳。现本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，包括，

2.根据权利要求1所述的杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，步骤S2包括，

3.根据权利要求2所述的杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，步骤S3包括，

4.根据权利要求1所述的杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，步骤S4中所述上位机(4)根据傅里叶微分热方程，所述待测试杜瓦组件(1)的内部温度传导满足以下表达式，

5.根据权利要求4所述的杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，所述电阻加热片(16)在未通电条件下，H＝0，则有以下表达式，...

【技术特征摘要】

1.一种杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，包括，

2.根据权利要求1所述的杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，步骤s2包括，

3.根据权利要求2所述的杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，步骤s3包括，

4.根据权利要求1所述的杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，步骤s4中所述上位机(4)根据傅里叶微分热方程，所述待测试杜瓦组件(1)的内部温度传导满足以下表达式，

5.根据权利要求4所述的杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，所述电阻加热片(16)在未通电条件下，h＝0，则有以下表达式，

6.根据权利要求4所述的杜瓦组件热负载和热质量的测试方法，其特征在于，在所述内部温度t固定的...

【专利技术属性】
技术研发人员：段煜，熊雄，吴建乐，
申请(专利权)人：浙江珏芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：