光源损伤检测方法和光源损伤检测装置制造方法及图纸

技术编号:42887703 阅读:18 留言:0更新日期:2024-09-30 15:08
本发明专利技术的光源损伤检测方法和光源损伤检测装置:前者包括依次执行的如下步骤:步骤A:使用透镜对待检测的光源所发出的光线进行折射形成放大的光投影;步骤B:观察光投影是否存在缺陷,据此判断光源是否存在损伤;后者设有用于放置待检测光源的待检测光源放置部,设有透镜对已放置到待检测光源放置部上的光源所发出的光线进行折射以形成放大的光投影供人观察。本发明专利技术所给出的光源损伤检测方法和光源损伤检测装置,使用透镜对光源所发出的光线进行折射形成放大的光影,这样就能够把光影上的细微缺陷放大,使用肉眼观察光影能够轻松地发现光影上的缺陷,从而判断光源上是否存在细微损伤。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光源损伤检测,具体涉及光源损伤检测方法和光源损伤检测装置


技术介绍

1、光源生产过程中,难免存在意外磕碰的现象,导致生产出来的光源存在损伤。常规光源损伤检测方法是通过肉眼去对光源进行观察,然后挑出其中存在损伤的光源,这种方法只能挑出存在显著损伤的光源。有些光源损伤较为细微,肉眼难以察觉,使用常规光源损伤检测方法难以将此类存在细微损伤的光源挑出。


技术实现思路

1、本专利技术要解决的技术问题是提供一种光源损伤检测方法,使用该检测方法能够将存在细微损伤的光源挑出。本专利技术还提供一种光源损伤检测装置,使用该检测装置能够将存在细微损伤的光源挑出。

2、专利技术人研究后发现,如果光源存在细微损伤,其发光时所产生的光影上就会存在细微的缺陷,也即可以通过分析光影上是否存在细微缺陷来判断光源是否存在细微损伤。如果使用透镜放大整个光影,那么光影上的细微缺陷也会被放大,肉眼就能够轻松地发现光影上的缺陷,从而判断出光源存在细微损伤。

3、为解决上述技术问题,本专利技术的光源损伤检测方法,包本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.光源损伤检测方法,其特征在于:包括依次执行的如下步骤:

2.根据权利要求1所述的光源损伤检测方法,其特征在于:

3.根据权利要求1或2所述的光源损伤检测方法,其特征在于:步骤A中,通过调节透镜与待检测光源的距离来控制光投影。

4.根据权利要求3所述的光源损伤检测方法,其特征在于:步骤A中,透镜安装在透镜支架上,透镜支架具有操作部,通过操作透镜支架的操作部来调节透镜支架与待检测光源的距离,以此方式调节透镜与待检测光源的距离。

5.根据权利要求1所述的光源损伤检测方法,其特征在于:步骤A中,让光源朝上发光,把透镜放置到光源上方,从而在天花板...

【技术特征摘要】

1.光源损伤检测方法,其特征在于:包括依次执行的如下步骤:

2.根据权利要求1所述的光源损伤检测方法,其特征在于:

3.根据权利要求1或2所述的光源损伤检测方法,其特征在于:步骤a中,通过调节透镜与待检测光源的距离来控制光投影。

4.根据权利要求3所述的光源损伤检测方法,其特征在于:步骤a中,透镜安装在透镜支架上,透镜支架具有操作部,通过操作透镜支架的操作部来调节透镜支架与待检测光源的距离,以此方式调节透镜与待检测光源的距离。

5.根据权利要求1所述的光源损伤检测方法,其特征在于:步骤a中,让光源朝上发光,把透镜放置到光源上方,从而在天花板上形成放大的光投影。

6.光源损伤检测装置,其特征在于:设有用于放置待检测光源的待检测光源放置部,设有透镜对已放置到待检测光源放...

【专利技术属性】
技术研发人员:张文毛宇鹏毛福生
申请(专利权)人:广州市晶鑫光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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