一种稳定接触导通的微针测试装置、测试系统及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及探针测试技术领域，具体涉及一种稳定接触导通的微针测试装置、测试系统及测试方法。一种稳定接触导通的微针测试装置，包括：固定组件，所述固定组件设有第一探针，所述固定组件设有容纳空间；浮动组件，与所述容纳空间内，所述浮动组件设有可拆卸的第二探针，所述第二探针的一端适于与待测母头连接器连接，所述第二探针的另一端与第一探针滑动连接。本发明专利技术解决探针与母头连接器频繁接触而出现损坏，探针往往固定于测试设备上，若要更换需更换固定探针的整个部件，存在更换损坏探针成本高的问题，从而提供一种稳定接触导通的微针测试装置、测试系统及测试方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及探针测试，具体涉及一种稳定接触导通的微针测试装置、测试系统及测试方法。

技术介绍

1、现有的b2b连接器(board－to－board connector，板对板连接器)用于连接不同的电路板或者软排线，使两个电路板或者软排线之间可以实现信号的传输。此连接器可分为公头连接器、母头连接器，两种连接器侧面均设有若干个导电接触点。b2b连接器被大量用于3c类产品主板上(主板上基本都焊接母头连接器)，保证其质量是生产过程的重中之重。

2、现有的测试中，公母头对接扣合的方式，这种方式操作复杂且可能对产品被测连接器造成损耗，导致被测的公头连接器或母头连接器造成损伤，降低产品质量。对此，企业设计出连接器测试设备，部分测试设备通过探针与母头连接器进行连通，在长期测试过程中，探针会与母头连接器频繁接触而出现损坏，而探针往往固定于测试设备上，若要更换需更换固定探针的整个部件，存在更换成本高的问题。

技术实现思路

1、因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的探针会与母头连接器频繁接触而出现损坏，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述固定组件(2)包括探针固定块(201)，所述第一探针(206)设于探针固定块(201)内，所述浮动组件(1)包括浮动块(101)，所述第二探针(102)设于浮动块(101)内，所述第一探针(206)设有第一针头端(2061)，所述第一针头端(2061)伸出探针固定块(201)，所述第二探针(102)设有中空柱(1022)，所述第一针头端(2061)伸入中空柱(1022)内。

3.根据权利要求2所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述...

【技术特征摘要】

1.一种稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述固定组件(2)包括探针固定块(201)，所述第一探针(206)设于探针固定块(201)内，所述浮动组件(1)包括浮动块(101)，所述第二探针(102)设于浮动块(101)内，所述第一探针(206)设有第一针头端(2061)，所述第一针头端(2061)伸出探针固定块(201)，所述第二探针(102)设有中空柱(1022)，所述第一针头端(2061)伸入中空柱(1022)内。

3.根据权利要求2所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述第二探针(102)设有第二针头端(1021)，所述中空柱(1022)的直径大于第二针头端(1021)的直径，所述浮动块(101)内设有阶梯孔，所述第二针头端(1021)穿过阶梯孔伸出浮动块(101)设置，所述第二针头端(1021)伸入待测母头连接器(3)的连通槽内。

4.根据权利要求2所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述探针固定块(201)设有第一凸起端(2011)，所述浮动块(101)设有凹槽(1012)，所述第一凸起端(2011)与凹槽(1012)适配。

5.根据权利要求2所述的稳定接触导通的微针测试装置，其特征在于，所述固定组件(2)还包括盖体(208)，所述盖体(208)设有中心通孔(2081)，所述浮动块(101)设有第二凸起端(1011)，所述第二凸起端(1011)穿过中心通孔...

【专利技术属性】
技术研发人员：何志伟，胡江波，程黎辉，关亚东，
申请(专利权)人：龙旗电子惠州有限公司，
类型：发明
国别省市：