【技术实现步骤摘要】
本申请涉及物体检测，具体而言，涉及一种物体检测方法、系统及控制设备。
技术介绍
1、在物理研究领域中，普遍使用x射线成像技术来实现对物体的扫描和诊断，具体地，将x射线照射到被检物上，并且检测由被检物透射的x射线，从而完成对被检物的扫描并生成被测物的扫描图像。
2、现有技术中，在对被检物进行扫描时是一次性无差别完成扫描，也就是使用一种扫描参数对被检物进行一次完整扫描，这种扫描方法无法进行针对性的扫描，使得扫描结果不准确。
技术实现思路
1、本申请的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种物体检测方法、系统及控制设备，提高物体检测的准确性。
2、为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：
3、第一方面，本申请实施例提供了一种物体检测方法，所述方法包括：
4、若根据预扫描得到的至少一帧扫描图像确定被测物体中存在感兴趣区域，则获取初始扫描图像，所述初始扫描图像中包括所述被测物体中的感兴趣区域，所述初始扫描图像由探测设备按照初始扫描参数扫描得
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【技术保护点】
1.一种物体检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的物体检测方法，其特征在于，所述根据所述被测物体的最大尺寸、所述感兴趣区域的等级以及所述初始扫描参数，确定目标扫描参数，包括：
3.根据权利要求2所述的物体检测方法，其特征在于，所述根据初始采集帧率以及所述感兴趣区域的等级，确定目标采集帧率，包括：
4.根据权利要求1所述的物体检测方法，其特征在于，所述物体放置设备包括：放置平台、水平调节组件、垂直调节组件以及扫描转台，所述放置平台用于放置所述被测物体，所述扫描转台用于在控制设备的控制下旋转并带动所述放置平台旋转
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【技术特征摘要】
1.一种物体检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的物体检测方法，其特征在于，所述根据所述被测物体的最大尺寸、所述感兴趣区域的等级以及所述初始扫描参数，确定目标扫描参数，包括：
3.根据权利要求2所述的物体检测方法，其特征在于，所述根据初始采集帧率以及所述感兴趣区域的等级，确定目标采集帧率，包括：
4.根据权利要求1所述的物体检测方法，其特征在于，所述物体放置设备包括：放置平台、水平调节组件、垂直调节组件以及扫描转台，所述放置平台用于放置所述被测物体，所述扫描转台用于在控制设备的控制下旋转并带动所述放置平台旋转；
5.根据权利要求4所述的物体检测方法，其特征在于，所述根据所述第一位置、所述初始扫描参数中的初始源探距离以及初始源物距离，确定所述水平调节组件的纵向移动参数以及所述垂直调节组件的垂直调节参数，包括：
6.根据权利要求4所述的物体检测方法，其特征在于，所述根据所述初始源探距离、所述初始源物距离、所...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐志宏，郑剑杰，金建华，
申请(专利权)人：上海超群检测科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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