辐射度量的水平或密度测量制造技术

技术编号:4286723 阅读:244 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种用于确定介质的水平或者密度的辐射度量的水平或密度测量系统,以及一种用于辐射度量地确定介质的水平或者密度的方法。根据本发明专利技术的一个实施例,通过借助光电二极管阵列检测由闪烁体产生的闪光来辐射度量地测量罐中介质的水平或者密度。计算相应的电压脉冲的总和,并且在将这些电压脉冲用于确定介质的水平或者密度之前,对这些电压脉冲的关联性进行分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及辐射度量的水平或密度测量。本专利技术具体地涉及一种用于确定介质的水平或者密度的辐射度量的水平测量系统和/或辐射度量的密度测量系统,也涉及一种用于辐射度量地确定介质的水平(也就是极限水平测量)或者密度的方法或者用于关于传送带或者螺旋输送机的吞吐量测量的方法。
技术介绍
在当今的辐射度量的测量系统中使用所谓的光电倍增器,该光电倍增器检测由闪烁体产生的闪光并且将由闪烁体产生的闪光转换成电信号。这种光电倍增器可能需要复杂的电压产生。此外,所需要的空间可能比较大。
技术实现思路
本专利技术公开了一种根据独立权利要求的特征所述的用于确定介质的水平或者密度的辐射度量的水平或密度测量系统,以及用于辐射度量地确定介质的水平或者密度的方法。在从属权利要求中公开了本专利技术的附加改进方案。 所描述的实施例同样地应用于测量系统和方法。换言之,也可在方法中实施以下关于测量系统所描述的特征,反之亦然。 根据本专利技术的一个实施例,公开了一种用于确定罐中介质的水平或者密度的、辐射度量的水平测量系统和/或密度测量系统,其中该测量系统的特征在于包括转换器、光电二极管和评估单元。转换器用于将透过介质的电离本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于确定介质的水平或者密度的辐射度量的水平或密度测量系统,其中所述测量系统(100)包括:转换器(101),用于将透过所述介质的电离第一辐射至少部分转换成电磁第二辐射;光电二极管(102),用于将所述第二辐射至少部分转换成电压脉冲;以及评估单元(103),用于基于多个所产生的电压脉冲来确定所述介质的水平或者密度。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:温弗里德劳尔约瑟夫费伦巴赫
申请(专利权)人:VEGA格里沙贝两合公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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