【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光子集成芯片,具体涉及一种可突破衍射极限的片上波导、光子集成芯片及制备方法。
技术介绍
1、近年来,随着量子信息、边缘计算、人工智能等新一代信息技术的快速发展,数据量呈现指数级骤增,对信息的生成、存储、传输和处理技术提出了更高的要求。为满足这些要求,微电子器件愈来愈趋近尺寸小型化的物理极限,光电子器件与微电子器件的融合和集成已是大势所趋,并将为未来信息技术带来革命性的影响。中红外波段在空间光通信、热成像、物质探测分析等关乎国家发展、国防安全、民生改善等
具有重要的应用前景。利用半导体工艺实现中红外光电子系统芯片小型化在尺寸、功耗以及大规模量产具有重大优势。因此,发展中红外片上集成光电子技术具有重大意义。
2、电磁波导是用来定向引导电磁波的结构,不仅可作为一种传输介质,如光纤通信用的光纤,而且还可用于一种感知环境变化的传感元件,如光纤传感器,更多的是作为信号处理器件,如光调制器等。片上波导具有光场限域能力强、光学损耗低、cmos工艺兼容性好、可实现高密度器件集成等优点,是片上集成技术的研究重点。然而,可突破
...【技术保护点】
1.可突破衍射极限的片上波导,其特征在于:包括基底层、位于所述基底层上的二维石墨烯-氮化硼层、位于所述二维石墨烯-氮化硼层上的圆柱波导、位于所述二维石墨烯-氮化硼层上并包覆所述圆柱波导的上覆盖层;所述圆柱波导的折射率大于所述上覆盖层的折射率。
2.根据权利要求1所述的可突破衍射极限的片上波导,其特征在于:所述圆柱波导材质为硅,折射率为3.3~3.5。
3.根据权利要求2所述的可突破衍射极限的片上波导,其特征在于:所述基底层和所述上覆盖层材质为二氧化硅,折射率为1.1~1.3。
4.根据权利要求1所述的可突破衍射极限的片上波导,其特征
...【技术特征摘要】
1.可突破衍射极限的片上波导,其特征在于:包括基底层、位于所述基底层上的二维石墨烯-氮化硼层、位于所述二维石墨烯-氮化硼层上的圆柱波导、位于所述二维石墨烯-氮化硼层上并包覆所述圆柱波导的上覆盖层;所述圆柱波导的折射率大于所述上覆盖层的折射率。
2.根据权利要求1所述的可突破衍射极限的片上波导,其特征在于:所述圆柱波导材质为硅,折射率为3.3~3.5。
3.根据权利要求2所述的可突破衍射极限的片上波导,其特征在于:所述基底层和所述上覆盖层材质为二氧化硅,折射率为1.1~1.3。
4.根据权利要求1所述的可突破衍射极限的片上波导,其特征在于:所述圆柱波导的直径为0.1~1µm;所述二维石墨烯-氮化硼层的宽度为0.1~1µm。
5.根据权利要求4所述的可突破衍射极限的片上波导,其特征在于:所述二维...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑凯,夏召强,叶信立,
申请(专利权)人:西北工业大学深圳研究院,
类型:发明
国别省市:
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