基于Tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法技术

技术编号:42794924 阅读:40 留言:0更新日期:2024-09-21 00:50
基于Tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,属于电数字数据处理领域,包括:基于Tweedie指数扩散过程并利用应力加速模型构建二元恒应力加速退化试验模型;假设产品具有两个相关的性能退化特征;确定Copula函数;求解模型未知参数;基于模型未知参数的估计值,结合约束条件与优化目标,得到二元恒应力加速退化试验优化设计模型;采用该优化设计模型并利用粒子群优化算法搜索最优恒应力加速退化试验方案。本发明专利技术考虑二元性能退化特征相关的影响,以最大化Fisher信息矩阵行列式为优化目标,保证产品退化模型的参数估计精度,为试验成本控制、退化数据收集、寿命预测及可靠性评估提供了理论依据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电数字数据处理,具体涉及一种基于tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法。


技术介绍

1、恒应力加速退化试验是一种有效的机械建模方法,通过进行比正常运行条件下更严格的测试环境,在更短的时间内收集更多可靠性相关信息。恒应力加速退化试验被广泛用于获取质量特征信息,其退化数据与寿命有关,因为退化是产品损伤时间的累积。目前,恒应力加速退化试验的研究主要集中在性能退化模型、退化数据的统计分析方法、恒应力加速退化试验的优化设计等方面。

2、在优化设计的基本假设中,对于加速退化模型假设有以下几个条件:1)产品退化不可逆;2)一种加速退化模型对应一种退化过程、机理或失效模式;3)样本性能在加速退化试验开始前的退化可以忽略;4)高应力水平下的退化或失效机理与设计或常规使用应力下的退化或失效机理一致。目前,大多数的加速退化模型仅考虑产品具有单一性能退化特征的情况。实际上,一些高可靠性长寿命产品可能具有两个或更多的性能退化特征,或者某个系统可能由多个部件构成。如铷原子频标的关键元器件铷原子灯的性能退化可以由铷量消耗或光强下降来描述,一个照明系统可本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于Tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于Tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,其特征在于,步骤S1中,所述二元恒应力加速退化试验模型为:

3.根据权利要求1所述的基于Tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,其特征在于,步骤S201中,其具体假设如下:

4.根据权利要求1所述的基于Tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,其特征在于,步骤S202中,所述Copula函数具体选用Archimedean Copula函数族中能够描述两个性能退化特征之间相关性的 F...

【技术特征摘要】

1.基于tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,其特征在于,步骤s1中,所述二元恒应力加速退化试验模型为:

3.根据权利要求1所述的基于tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,其特征在于,步骤s201中,其具体假设如下:

4.根据权利要求1所述的基于tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,其特征在于,步骤s202中,所述copula函数具体选用archimedean copula函数族中能够描述两个性能退化特征之间相关性的 frank copula函数:

5.根据权利要求1所述的基于tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,其特征在于,所述步骤s203的具体操作流程如下:

6.根据权利要求5所述的基于tweedie指数性能指标相关加速退化试验方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:谷东伟周禹彤李伟亮龙哲金山张铭文杨金龙李奇涵李念洹
申请(专利权)人:长春工业大学
类型:发明
国别省市:

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