一种LED灯珠测试装置制造方法及图纸

技术编号:42781444 阅读:34 留言:0更新日期:2024-09-21 00:41
本技术公开了一种LED灯珠测试装置,其包括恒流源驱动电路板、散热底座、光检测立方体框和多个LED铜基板,散热底座为长条形状,多个LED铜基板并排固定在散热底座的上面,LED铜基板排列的方向为散热底座的长度方向,被测的LED灯珠将安装在LED铜基板上,LED铜基板与恒流源驱动电路板的输出端电线连接,光检测立方体框的上面和下面均为开口,光检测立方体框的下面与散热底座的上面滑动连接,LED铜基板位于光检测立方体框的滑动路径上,光检测立方体框的侧面上设有至少两个用于安装光参数测试仪器的探头的光检测安装孔。本技术能对多个LED灯珠连续进行测试,且能同时进行两项及两项以上的光参数测试,从而提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于led电子照明测试,具体涉及一种led灯珠测试装置。


技术介绍

1、在过去,宽场荧光显微镜通常采用汞灯、氙灯等气体放电灯,这类光源寿命短、热量高、搭配电子快门等机械运动部件引入了额外的震动,相比之下led光源具有单色性好、电控性好、冷光源、长寿命、节能、环保等优点。蔡司、尼康、徕卡、奥林巴斯等顶尖显微镜厂家近些年都推出了许多采用led光源作为激发光源的显微镜系统。

2、led灯珠是led光源最基础也是最重要的器件之一,其光参数会对最终荧光成像的效果产生非常重要影响,因此,为了研发出满足荧光成像的高性能led激发光源系统,首先要找到合适的led灯珠。

3、荧光成像需要使用特定波长的激发光,如488nm、561nm等,而且对光功率、峰值波长、光谱带宽等参数有严格要求,因此有必要在使用前测试筛选出满足要求的led灯珠。荧光成像还需要激发光源在特定波长范围内具有较强的输出光功率,因此需要检测led灯珠在窄带宽范围内的光功率大小;随着led灯珠长时间的开启,led灯珠老化后输出光功率会衰减,有必要测试led灯珠的长期功率变化来选择稳本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种LED灯珠测试装置,其特征在于:包括恒流源驱动电路板、散热底座、光检测立方体框和多个LED铜基板,所述散热底座为长条形状,多个所述LED铜基板并排固定在所述散热底座的上面,所述LED铜基板排列的方向为所述散热底座的长度方向,被测的LED灯珠将安装在所述LED铜基板上,所述LED铜基板与所述恒流源驱动电路板的输出端电线连接,所述光检测立方体框的上面和下面均为开口,所述光检测立方体框的下面与所述散热底座的上面滑动连接,所述LED铜基板位于所述光检测立方体框的滑动路径上,所述光检测立方体框的侧面上设有至少两个用于安装光参数测试仪器的探头的光检测安装孔。

2.根据权利要求1所...

【技术特征摘要】

1.一种led灯珠测试装置,其特征在于:包括恒流源驱动电路板、散热底座、光检测立方体框和多个led铜基板,所述散热底座为长条形状,多个所述led铜基板并排固定在所述散热底座的上面,所述led铜基板排列的方向为所述散热底座的长度方向,被测的led灯珠将安装在所述led铜基板上,所述led铜基板与所述恒流源驱动电路板的输出端电线连接,所述光检测立方体框的上面和下面均为开口,所述光检测立方体框的下面与所述散热底座的上面滑动连接,所述led铜基板位于所述光检测立方体框的滑动路径上,所述光检测立方体框的侧面上设有至少两个用于安装光参数测试仪器的探头的光检测安装孔。

2.根据权利要求1所述的led灯珠测试装置,其特征在于:在所述散热底座的上面两侧分别设有滑槽,所述led铜基板位于两侧的所述滑槽之间,所述光检测立方体框的下面两侧分别设有导条,所述导条配合嵌入所述滑槽中,所述光检测立方体框能沿所述滑槽滑动。

3.根据权利要求1所述的led灯珠测试装置,其特征在于:所述散热底座的下面设有散热鳍片。

4.根据权利要求1所述的led灯珠测试装置,其特征在于:所述led灯珠测...

【专利技术属性】
技术研发人员:庄正飞吴四缘左欢
申请(专利权)人:师大瑞利光电科技珠海有限公司
类型:新型
国别省市:

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