测距装置和测距方法制造方法及图纸

本公开内容提出了能够抑制测距准确度的劣化的测距装置。根据实施方式的测距装置包括：测距单元(13，14，11)，用于针对设置有至少在第一方向上布置的多个像素的每个带状区域(142)，测量表示到存在于测距区域(AR)中的对象(90)的距离的深度信息，该测距区域(AR)在第一方向和与第一方向垂直的第二方向上延伸；以及计算单元(15)，用于基于针对每个带状区域(142)测量的每个像素的深度信息来生成测距区域(AR)的深度图像。在第一方向上彼此相邻的带状区域(142)之间的边界的位置在第一方向上延伸并在第二方向上布置的多个像素线之间不同，并且在多个像素线中，基于夹着由在第一方向上彼此相邻的两个带状区域(142)形成的边界的两个像素之中的一个像素的像素值，计算单元(15)校正另一个像素线中的像素的像素值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开内容涉及距离测量装置和距离测量方法。

技术介绍

1、近年来，通过飞行时间(tof)方法测量距离的距离图像传感器(在下文中被称为tof传感器)备受关注。例如，存在通过使用互补金属氧化物半导体(cmos)半导体集成电路技术制造并且通过使用以平面方式布置的多个光接收元件来测量到对象的距离的tof传感器。

2、tof传感器包括直接型tof传感器和间接型tof传感器。例如，在直接型tof传感器(在下文中也被称为dtof传感器)中，从光源发射光时到其反射光(在下文中也被称为回波)入射到spad上时的时间(在下文中被称为飞行时间)作为物理量被测量多次，并且基于从测量结果生成的物理量的直方图识别到对象的距离。

3、引文列表

4、专利文献

5、专利文献1：jp 2021-128084 a

6、专利文献2：jp 2004-271291 a

7、专利文献3：jp h8-287736a

技术实现思路

1、技术问题

2、然而，在将由对象反射的光作本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种距离测量装置，包括：

2.根据权利要求1所述的距离测量装置，

3.根据权利要求2所述的距离测量装置，

4.根据权利要求3所述的距离测量装置，

5.根据权利要求3所述的距离测量装置，

6.根据权利要求1所述的距离测量装置，

7.根据权利要求6所述的距离测量装置，

8.根据权利要求7所述的距离测量装置，

9.根据权利要求7所述的距离测量装置，

10.根据权利要求7所述的距离测量装置，

11.根据权利要求6所述的距离测量装置，

12.根据权利要求1所述的距...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种距离测量装置，包括：

2.根据权利要求1所述的距离测量装置，

3.根据权利要求2所述的距离测量装置，

4.根据权利要求3所述的距离测量装置，

5.根据权利要求3所述的距离测量装置，

6.根据权利要求1所述的距离测量装置，

7.根据权利要求6所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：西智裕，横川昌俊，樱井裕大，
申请(专利权)人：索尼集团公司，
类型：发明
国别省市：