一种误差可控的线性加工路径拟合方法及系统技术方案

技术编号:42689195 阅读:31 留言:0更新日期:2024-09-10 12:37
本发明专利技术公开了一种误差可控的线性加工路径拟合方法及系统,该方法包括:S1.根据线性加工路径,设定拟合曲线最大逼近误差;S2.在所述线性加工路径上设置若干型值点并构成型值点集;S3.基于所述型值点集中的型值点设置控制点并构成控制点集;S4.根据所述控制点集中的若干控制点确定二次B样条曲线;S5.采用所述二次B样条曲线对线性加工路径进行拟合。本发明专利技术的算法复杂度低且能够满足线性加工路径误差可控的要求。本发明专利技术可应用在中高档数控系统中,其具备误差可控,且能实现路径局部光顺。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于计算机辅助制造及数控加工,具体涉及一种误差可控的线性加工路径拟合方法及系统


技术介绍

1、数控系统是机床的核心零部件,其性能的优劣决定着数控机床的加工稳定性以及加工精度。随着现代数控技术的发展与进步,人们对数控系统的加工稳定性、加工速度和加工精度提出了更高的要求。针对较复杂的待加工零件,为了满足加工精度的要求,往往是将模型较复杂的曲线造型分割为大量的连续g01小线段。如何处理好这些大量连续的g01小线段决定了数控系统的加工速度和稳定性。如果使用传统的直线插补方法,将导致电机处于频繁的加减速状态,从而严重影响加工速度和稳定性。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术之缺陷,本专利技术提供了一种误差可控的线性加工路径拟合方法及系统,本专利技术的算法复杂度低且能够满足加工路径误差可控的要求。

2、为了实现预期效果,本专利技术采用了以下技术方案:

3、本专利技术公开了一种误差可控的线性加工路径拟合方法,包括:

4、s1.根据线性加工路径,设定拟合曲线最大本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种误差可控的线性加工路径拟合方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述一种误差可控的线性加工路径拟合方法,其特征在于,所述S3具体包括:将所述型值点集中的相邻两个型值点连线构成若干型值点线段,在相邻两条型值点线段上分别设置一个控制点,且相邻两条型值点线段上的控制点到相邻两条型值点线段交点的距离相等。

3.如权利要求2所述一种误差可控的线性加工路径拟合方法,其特征在于,所述控制点集中的第一个控制点与所述型值点集中的第一个型值点重合,所述控制点集中的最后一个控制点与所述型值点集中的最后一个型值点重合。

4.如权利要求2所述一种误差可控的线性加工路...

【技术特征摘要】

1.一种误差可控的线性加工路径拟合方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述一种误差可控的线性加工路径拟合方法,其特征在于,所述s3具体包括:将所述型值点集中的相邻两个型值点连线构成若干型值点线段,在相邻两条型值点线段上分别设置一个控制点,且相邻两条型值点线段上的控制点到相邻两条型值点线段交点的距离相等。

3.如权利要求2所述一种误差可控的线性加工路径拟合方法,其特征在于,所述控制点集中的第一个控制点与所述型值点集中的第一个型值点重合,所述控制点集中的最后一个控制点与所述型值点集中的最后一个型值点重合。

4.如权利要求2所述一种误差可控的线性加工路径拟合方法,其特征在于,所述距离满足以下表达式:

5.如权利要求4所述一种误差可控的线性加工路径拟合方法,其特征在于,所述s4具体包括:根据所述控制点集中的4个控制点确定二次b样条曲线,其中,第一控制点qi,0与型值点pi-1重合,第二控制点qi,1在型值点线段pi-1pi上,第三控制点qi,2在在型值点线段pipi+1上,第四控制点qi,3...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴渤王浩清王传兵高翔贾聪聪何山吴迪胡少云秦昌述范大岗
申请(专利权)人:武汉华中数控股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1