检验设备及检验方法技术

技术编号:42688920 阅读:38 留言:0更新日期:2024-09-10 12:37
本申请公开了一种检验设备及检验方法,检验设备中基准组件有基准平面,参比件与待测件分别通过标准支撑面或者基准面支撑在基准组件上,参比件为待测件的参照标准。测微仪本身、测微仪的至少两个测头,有利于反馈较高精度垂直度误差。定位组件对测微仪的测头起到支撑定位作用,可降低测头位置偏移可能对检验结果造成的影响,有利于提高准确度。且测微仪精度高,至少两个测头可对不同形貌尺寸的待测件进行检测,能提高通用性。若测量待测件得到参数如果与测量参比件得到的参数差值过大,待测件的垂直度误差较大,不能直接投入使用。一定程度上解决待测件垂直度的测量精度不够高以及通用性不够高的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于检验设备,尤其涉及一种检验设备及检验方法


技术介绍

1、垂直度是方向公差的一种,用于控制被测要素与基准要素之间的夹角为90°,被测要素与基准要素可为平面或者直线。在加工过程中,常会涉及到需要控制待测件上被测要素与基准要素之间的垂直度,以保证待测件的安装或者装配,因此需要对待测件的垂直度进行测量,垂直度合格的待测件投入使用。待测件可为零件或者工件等。

2、目前,小型待测件的垂直度,可通过角尺、游标卡尺、百分表、影像测量仪和三坐标测量仪等进行,对于大型构件和工程构筑物垂直度的测量可以采用全站仪、经纬仪、激光准直仪、卫星定位仪进行。大型的测量设备不适用于小型待测件,游标卡尺等测量小型的待测件时,又容易出现误差,依靠肉眼读数同样会增加误差,影响垂直度的测量精度,且这些设备也存在一定的尺寸与形貌限制,通用性不够高。


技术实现思路

1、本申请旨在至少能够在一定程度上解决待测件垂直度的测量精度不够高以及通用性不够高的技术问题。为此,本申请提供了一种检验设备及检验方法。

>2、本申请提供了一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种检验设备,其特征在于,应用于检验待测件的基准面与被测面间的垂直度误差,所述基准面与所述被测面间存在夹角,包括基准组件、参比件、测微仪与定位组件:

2.根据权利要求1所述的检验设备,其特征在于,所述基准组件包括:

3.根据权利要求2所述的检验设备,其特征在于,所述基准组件还包括:

4.根据权利要求1~3任一项所述的检验设备,其特征在于,至少两个所述测头并排且朝向相同地连接于所述定位组件。

5.根据权利要求1~3任一项所述的检验设备,其特征在于,所述测微仪还包括主机与缆线,所述测头通过所述缆线连接至所述主机,所述定位组件包括:

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【技术特征摘要】

1.一种检验设备,其特征在于,应用于检验待测件的基准面与被测面间的垂直度误差,所述基准面与所述被测面间存在夹角,包括基准组件、参比件、测微仪与定位组件:

2.根据权利要求1所述的检验设备,其特征在于,所述基准组件包括:

3.根据权利要求2所述的检验设备,其特征在于,所述基准组件还包括:

4.根据权利要求1~3任一项所述的检验设备,其特征在于,至少两个所述测头并排且朝向相同地连接于所述定位组件。

5.根据权利要求1~3任一项所述的检验设备,其特征在于,所述测微仪还包括主机与缆线,所述测头通过所述缆线连接至所述主机,所述定位组件包括:

6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:张有为
申请(专利权)人:北京首钢冷轧薄板有限公司
类型:发明
国别省市:

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