【技术实现步骤摘要】
本申请属于检验设备，尤其涉及一种检验设备及检验方法。
技术介绍
1、垂直度是方向公差的一种，用于控制被测要素与基准要素之间的夹角为90°，被测要素与基准要素可为平面或者直线。在加工过程中，常会涉及到需要控制待测件上被测要素与基准要素之间的垂直度，以保证待测件的安装或者装配，因此需要对待测件的垂直度进行测量，垂直度合格的待测件投入使用。待测件可为零件或者工件等。
2、目前，小型待测件的垂直度，可通过角尺、游标卡尺、百分表、影像测量仪和三坐标测量仪等进行，对于大型构件和工程构筑物垂直度的测量可以采用全站仪、经纬仪、激光准直仪、卫星定位仪进行。大型的测量设备不适用于小型待测件，游标卡尺等测量小型的待测件时，又容易出现误差，依靠肉眼读数同样会增加误差，影响垂直度的测量精度，且这些设备也存在一定的尺寸与形貌限制，通用性不够高。
技术实现思路
1、本申请旨在至少能够在一定程度上解决待测件垂直度的测量精度不够高以及通用性不够高的技术问题。为此，本申请提供了一种检验设备及检验方法。
2、本申请提供了一种检验设备，应用于检验待测件的基准面与被测面间的垂直度误差，所述基准面与所述被测面间存在夹角，包括基准组件、参比件、测微仪与定位组件：
3、所述基准组件设有基准平面，所述基准平面用于贴合所述基准面；
4、所述参比件具有垂直的标准支撑面与标准测量面，所述标准支撑面用于贴合于所述基准平面；
5、所述测微仪设有可移动的测头，至少两个所述测头间隔连接
6、在一些实施例中，所述基准组件包括：
7、正弦规，所述正弦规的方体表面被配置为所述基准平面；
8、限位件，与所述正弦规连接，且位于所述正弦规与所述定位组件间，所述限位件沿所述基准平面的法向相对所述基准平面凸出。
9、在一些实施例中，所述基准组件还包括：
10、定位件，与所述限位件连接，且延伸支撑至所述基准平面，所述定位件设有与所述被测面或所述标准测量面抵接的定位部。
11、在一些实施例中，至少两个所述测头并排且朝向相同地连接于所述定位组件。
12、在一些实施例中，所述测微仪还包括主机与缆线，所述测头通过所述缆线连接至所述主机，所述定位组件包括：
13、基座；
14、转动件，可转动地连接于所述基座，所述测头连接于所述转动件。
15、在一些实施例中，所述转动件包括：
16、杆部，一端绕自身轴线地转动连接于所述基座；
17、可拆卸连接于所述杆部，且沿所述杆部的轴向间隔的至少两个连接部，每个所述连接部与一个所述测头可拆卸连接。
18、在一些实施例中，所述检验设备还包括测量平台，所述基准组件、所述测微仪与所述定位组件间隔地设于所述测量平台。
19、在一些实施例中，所述定位组件吸附于所述测量平台，以同步检测所述被测面或者所述标准测量面上至少两个点位。
20、本申请提供了一种检验方法，采用如前所述的检验设备实现，所述检验方法包括：
21、使所述参比件的标准支撑面贴合于所述基准平面；
22、使至少两个所述测头同时测量所述标准测量面，以得到至少两个的标准数值；
23、将所述待测件替换所述参比件，且所述待测件的基准面支撑贴合于所述基准平面；
24、使至少两个所述测头测量同时测量所述被测面，以得到与所述标准数值一一对应的测量数值；
25、根据至少两个所述标准数值与测量数值判断所述待测件的垂直度误差。
26、在一些实施例中，所述“根据至少两个所述标准数值与测量数值判断所述待测件的垂直度误差”，包括：
27、获取每个所述标准数值与对应的所述测量数值的之差，以得到至少两个差值；
28、根据至少两个所述差值的均值判断所述垂直度误差。
29、根据本申请一个或多个实施例提供的有益效果：
30、检验设备能对待测件的基准面与被测面间的垂直度误差进行检验，检验设备中基准组件的基准平面，用于贴合待测件的基准面或者贴合参比件的标准支撑面。待测件、参比件通过对应的面支撑在基准组件上，基准组件的基准平面作为待测件与参比件的位置基准，便于对待测件与参比件放置在相同结构上进行测量检验，控制位置变量以降低位置因素对测量检验过程的干扰，有利于提高检验结果的准确度。参比件的标准支撑面与标准测量面相互垂直，参比件的参数为待测件的参照标准。采用测微仪对参比件或者待测件进行测量，测微仪本身测量的精度较高，能测量得到精度较高的参数，且测微头有至少两个测头，可以测量不同形貌与尺寸的待测件，有利于提高测量的通用性，测量时也能得到至少两个数值，取均值也能提高测量结果的可靠性，能反馈得到精度较高的测量结果。且测微仪的至少两个测头，间隔地连接于定位组件，而定位组件与基准组件相邻，定位组件上的两个测头能够实现对基准组件上参比件或者待测件的测量，定位组件也能尽量保证测量参比件与测量待测件时，测头的位置不会偏移过大，降低测头位置偏移可能对检验结果造成的影响，同样有利于控制位置变量以降低位置因素对检验过程的干扰，有利于提高检验结果的准确度。检验设备本身测量数值的精度较高，能反馈精度较高的垂直度误差，测微仪测量待测件得到的参数数值，如果与测微仪测量参比件得到的参数数值差值过大，可以得出待测件本身存在一定的误差，不能直接进行垂直度的数值测量并将待测件投入使用，垂直度误差极小的待测件，可进行垂直度数值的测量及后续正常使用。能通过垂直度误差准确反馈待测件的垂直度精度，且可适用于不同形貌尺寸的待测件。一定程度上解决待测件垂直度的测量精度不够高以及通用性不够高的技术问题。
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1.一种检验设备，其特征在于，应用于检验待测件的基准面与被测面间的垂直度误差，所述基准面与所述被测面间存在夹角，包括基准组件、参比件、测微仪与定位组件：
2.根据权利要求1所述的检验设备，其特征在于，所述基准组件包括：
3.根据权利要求2所述的检验设备，其特征在于，所述基准组件还包括：
4.根据权利要求1～3任一项所述的检验设备，其特征在于，至少两个所述测头并排且朝向相同地连接于所述定位组件。
5.根据权利要求1～3任一项所述的检验设备，其特征在于，所述测微仪还包括主机与缆线，所述测头通过所述缆线连接至所述主机，所述定位组件包括：
6.根据权利要求5所述的检验设备，其特征在于，所述转动件包括：
7.根据权利要求1～3任一项所述的检验设备，其特征在于，所述检验设备还包括测量平台，所述基准组件、所述测微仪与所述定位组件间隔地设于所述测量平台。
8.根据权利要求7所述的检验设备，其特征在于，所述定位组件吸附于所述测量平台，以同步检测所述被测面或者所述标准测量面上至少两个点位。
9.一种检验方
10.根据权利要求9所述的检验方法，其特征在于，所述“根据至少两个所述标准数值与测量数值判断所述待测件的垂直度误差”，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种检验设备，其特征在于，应用于检验待测件的基准面与被测面间的垂直度误差，所述基准面与所述被测面间存在夹角，包括基准组件、参比件、测微仪与定位组件：
2.根据权利要求1所述的检验设备，其特征在于，所述基准组件包括：
3.根据权利要求2所述的检验设备，其特征在于，所述基准组件还包括：
4.根据权利要求1～3任一项所述的检验设备，其特征在于，至少两个所述测头并排且朝向相同地连接于所述定位组件。
5.根据权利要求1～3任一项所述的检验设备，其特征在于，所述测微仪还包括主机与缆线，所述测头通过所述缆线连接至所述主机，所述定位组件包括：
6.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：张有为，
申请(专利权)人：北京首钢冷轧薄板有限公司，
类型：发明
国别省市：
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