【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片，特别是涉及一种芯片引线检测机。
技术介绍
1、芯片底部检测机顾名思义是一种用于检测芯片底部状态的检测装置，由于芯片底部通常为引线部分，不是芯片核心所在，所以为提高检测效率，常用一tray盘承载多个芯片进行检测。检测流程包括上料、检测、分拣、下料。传统芯片检测多为人工上料、检测、分拣和下料，效率、准确率低的同时还会使芯片在转移过程中受到损伤，这在很大程度上造成了生产成本、材料成本以及人工成本的损耗。
2、同时，在分拣芯片时，需要单独配备一个空tray盘用以盛放ng芯片，不仅降低了tray盘的利用率，还为芯片的整个检测流程造成了不便，也间接增加了检测成本。
技术实现思路
1、基于此，有必要提供一种芯片引线检测机，以解决现有技术中存在的人工检测芯片引线的效率低、准确度差的技术问题。
2、为实现上述目的，本申请提供一种芯片引线检测机，该芯片引线检测机包括：
3、上料模块，放置有多组待检tray盘，每组tray盘均包括依次堆叠在一起的多个tray盘...
【技术保护点】
1.一种芯片引线检测机，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片引线检测机，其特征在于，所述上料模块、所述定位模块和所述视觉检测模块均设置有两个，两个所述上料模块、两个所述定位模块和两个所述视觉检测模块并列形成有两条检测线，所述检测线沿所述第一水平方向运行，两条所述检测线沿垂直于所述第一水平方向的第二水平方向间距设置。
3.根据权利要求2所述的芯片引线检测机，其特征在于，所述上料模块包括：
4.根据权利要求3所述的芯片引线检测机，其特征在于，每组所述Tray盘的顶部盖设有盖体，所述上料模块还包括：
5.根据权利要...
【技术特征摘要】
1.一种芯片引线检测机，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片引线检测机，其特征在于，所述上料模块、所述定位模块和所述视觉检测模块均设置有两个，两个所述上料模块、两个所述定位模块和两个所述视觉检测模块并列形成有两条检测线，所述检测线沿所述第一水平方向运行，两条所述检测线沿垂直于所述第一水平方向的第二水平方向间距设置。
3.根据权利要求2所述的芯片引线检测机，其特征在于，所述上料模块包括：
4.根据权利要求3所述的芯片引线检测机，其特征在于，每组所述tray盘的顶部盖设有盖体，所述上料模块还包括：
5.根据权利要求2所述的芯片引线...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈洁，李煜林，麦伟业，
申请(专利权)人：深圳市鹰眼在线电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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