一种提高粗化效率的LED芯片及其制备方法技术

技术编号:42682251 阅读:24 留言:0更新日期:2024-09-10 12:31
本发明专利技术涉及一种提高粗化效率的LED芯片及其制备方法,属于光电子技术领域。LED芯片包括由下到上依次设置的GaAs衬底、DBR反射镜结构、第一半型导体层、有源层、第二型半导体层、过渡层、GaP电流扩展层和GaP欧姆接触层,GaP欧姆接触层上侧设置有洞槽和P面电极,GaAs衬底下侧设置有N面电极。本发明专利技术在常规湿法粗化的基础上,对要粗化的外延层做掩膜保护,进而进行湿法腐蚀,不仅可以增加出光面积,还可以增加粗化面积,提高粗化效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种提高粗化效率的led芯片及其制备方法,属于光电子。


技术介绍

1、发光二极管led作为早期的半导体电子器件,目前已经较为成熟,被广泛应用于室内照明、室外照明、背光显示、植物栽培、医疗等各个领域,gaas基材料是led发展过程中的重要一员,外延材料algainp是红黄光led的发光来源,目前如何进一步提高发光亮度是gaas基led面临的瓶颈问题。

2、led的亮度主要由内量子效率和外量子效率决定,外量子效率由内量子效率以及光提取效率共同影响。其中,内量子效率主要由外延材料决定,因此,在工艺生产过程中,提高光提取效率成为提高led亮度的主要手段。目前,提高光提取效率的主要方法有键合、引入反射镜、粗化等,且各种方法均已发展成熟,如何进一步提高led的亮度,满足市场对led亮度的需求,成为业界研究人员需亟待解决的问题。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本专利技术提供一种提高粗化效率的led制备方法,在常规湿法粗化的基础上,对要粗化的外延层做掩膜保护,进而进行湿法腐蚀,不仅可以增加出本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种提高粗化效率的LED芯片,其特征在于,包括由下到上依次设置的GaAs衬底、DBR反射镜结构、第一半型导体层、有源层、第二型半导体层、过渡层、GaP电流扩展层和GaP欧姆接触层,GaP欧姆接触层上侧设置有洞槽和P面电极,GaAs衬底下侧设置有N面电极。

2.如权利要求1所述的提高粗化效率的LED芯片,其特征在于,第一型半导体层为N型半导体结构,有源层为MQW多量子阱结构,第二型半导体层为P型半导体结构。

3.如权利要求2所述的提高粗化效率的LED芯片,其特征在于,P面电极为叠层结构,从下到上依次为Al/Ti/Pt/Au,厚度分别为

4.如权利要求...

【技术特征摘要】

1.一种提高粗化效率的led芯片,其特征在于,包括由下到上依次设置的gaas衬底、dbr反射镜结构、第一半型导体层、有源层、第二型半导体层、过渡层、gap电流扩展层和gap欧姆接触层,gap欧姆接触层上侧设置有洞槽和p面电极,gaas衬底下侧设置有n面电极。

2.如权利要求1所述的提高粗化效率的led芯片,其特征在于,第一型半导体层为n型半导体结构,有源层为mqw多量子阱结构,第二型半导体层为p型半导体结构。

3.如权利要求2所述的提高粗化效率的led芯片,其特征在于,p面电极为叠层结构,从下到上依次为al/ti/pt/au,厚度分别为

4.如权利要求3所述的提高粗化效率的led芯片,其特征在于,n面电极为叠层结构,自下而上依次为ni/au/g...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭建萍吴向龙王成新闫宝华
申请(专利权)人:山东浪潮华光光电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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