【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试设备,尤其涉及一种芯片导通性测试夹具。
技术介绍
1、芯片生产完成后,需要对芯片进行导通检测,以检测芯片内部的电路是否存在断路的现象,确保芯片能够达到正常的工作效果。目前在对芯片进行导通性测试时,通常只能对一种形状的芯片进行检测,不能对其他形状的芯片进行检测。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种芯片导通性测试夹具能有效地对不同形状的芯片进行固定,便于对检测机构多个第二凹槽内的芯片进行测试,有效提高芯片的测试效率。
2、为了实现上述目的,本专利技术采用了如下技术方案:一种芯片导通性测试夹具,包括测试平台,所述测试平台的上端固定连接有检测机构,所述测试平台的上端设有第一凹槽,所述第一凹槽的底部固定连接有转动电机,所述转动电机的驱动轴竖直朝上设置,所述转动电机的驱动轴上同轴固定连接有第一皮带轮,所述第一凹槽的底部转动连接有支撑杆,所述支撑杆上同轴固定连接有第二皮带轮,所述第二皮带轮与第一皮带轮传动连接,所述支撑杆的上端
...【技术保护点】
1.一种芯片导通性测试夹具,包括测试平台(1),所述测试平台(1)的上端固定连接有检测机构(2),其特征在于,所述测试平台(1)的上端设有第一凹槽(3),所述第一凹槽(3)的底部固定连接有转动电机(4),所述转动电机(4)的驱动轴竖直朝上设置,所述转动电机(4)的驱动轴上同轴固定连接有第一皮带轮(5),所述第一凹槽(3)的底部转动连接有支撑杆(6),所述支撑杆(6)上同轴固定连接有第二皮带轮(7),所述第二皮带轮(7)与第一皮带轮(5)传动连接,所述支撑杆(6)的上端固定连接有放置板(8),所述放置板(8)位于测试平台(1)的上方,所述放置板(8)位于检测机构(2)的
...【技术特征摘要】
1.一种芯片导通性测试夹具,包括测试平台(1),所述测试平台(1)的上端固定连接有检测机构(2),其特征在于,所述测试平台(1)的上端设有第一凹槽(3),所述第一凹槽(3)的底部固定连接有转动电机(4),所述转动电机(4)的驱动轴竖直朝上设置,所述转动电机(4)的驱动轴上同轴固定连接有第一皮带轮(5),所述第一凹槽(3)的底部转动连接有支撑杆(6),所述支撑杆(6)上同轴固定连接有第二皮带轮(7),所述第二皮带轮(7)与第一皮带轮(5)传动连接,所述支撑杆(6)的上端固定连接有放置板(8),所述放置板(8...
【专利技术属性】
技术研发人员:王丽,张成,位贤龙,陈松,姚燕杰,
申请(专利权)人:安徽凯尔通讯科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。