均亮平行光测量电特性的测试工装制造技术

本技术公开了一种均亮平行光测量电特性的测试工装，包括测试台和电特性测试机；待测元件设置在测试台上，电特性测试机包括测试机主体、电路板和导光板，电路板与测试机主体电性连接，且电路板与待测元件的被测位置电性接触连接，导光板与测试机主体电性连接，且导光板面向待测元件设置。本技术涉及测试设备技术领域，能够解决现有技术中多颗发光二极管光束的均亮效果差导致电特性参数测试结果误差的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试设备，尤其涉及一种均亮平行光测量电特性的测试工装。

技术介绍

1、在光敏二极管阵列、非对称双pd等元件的电特性测试过程中，通常采用一颗或多颗发光二极管发出光束照射在待测元件上，再通过给定的参数进行电特性的测试。多颗发光二极管同时发出光束时，不同发光二极管的材料一致性难以保证，导致多颗发光二极管的光束平行光角度光强无法完全一致，均亮效果差，导致电特性参数的测试结果存在一定的误差。因此，需要提供一种均亮平行光测量电特性的测试工装，能够解决现有技术中多颗发光二极管光束的均亮效果差导致电特性参数测试结果误差的问题。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种均亮平行光测量电特性的测试工装，能够解决现有技术中多颗发光二极管光束的均亮效果差导致电特性参数测试结果误差的问题。

2、本技术是这样实现的：

3、一种均亮平行光测量电特性的测试工装，包括测试台和电特性测试机；待测元件设置在测试台上，电特性测试机包括测试机主体、电路板和导光板，电路板与测试机主体电性连接，且电路板与待测元件的被测位置电性接触连接，导光板与测试机主体电性连接，且导光板面向待测元件设置。

4、所述的导光板包括led显示屏、基材和光源，led显示屏安装在基材上，一对光源安装在基材的两侧边缘处；led显示屏上形成有若干个反射点。

5、所述的若干个反射点的中心呈矩阵形式分布在led显示屏上，每一排平行于光源的反射点的尺寸及形状相同。

6、位于所述的led显示屏中部且远离光源的反射点的尺寸大于位于led显示屏侧部且靠近光源的反射点的尺寸，使反射点的尺寸从led显示屏的侧部向中部逐渐增大。

7、所述的位于led显示屏中部且远离光源的反射点呈圆形，位于led显示屏侧部且靠近光源的反射点呈椭圆形，使反射点的形状从led显示屏侧部的圆形向中部的椭圆形逐渐过渡变化。

8、所述的位于led显示屏中部且远离光源的反射点的中心间距小于位于led显示屏侧部且靠近光源的反射点的中心间距。

9、所述的电路板上间隔排布有多根探针，电路板通过多根探针与待测元件的被测位置电性接触连接。

10、本技术与现有技术相比，具有以下有益效果：

11、1、本技术由于设有导光板，利用与光源不同距离处的反射点的尺寸、形状和间距的设计，能够提高导光板的光束均亮和平行效果，相比传统的采用多个发光二极管组合使用，能够为待测元件的电特性参数测试提供更好测试环境，提高测试结果准确性。

12、2、本技术的结构简单，设计成本低，使用寿命长，能够适用于光敏二极管阵列、非对称双pd等待测元件的电特性参数测试。

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【技术保护点】

1.一种均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：包括测试台(1)和电特性测试机；待测元件设置在测试台(1)上，电特性测试机包括测试机主体(2)、电路板(3)和导光板(5)，电路板(3)与测试机主体(2)电性连接，且电路板(3)与待测元件的被测位置电性接触连接，导光板(5)与测试机主体(2)电性连接，且导光板(5)面向待测元件设置。

2.根据权利要求1所述的均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：所述的导光板(5)包括LED显示屏(501)、基材(502)和光源(503)，LED显示屏(501)安装在基材(502)上，一对光源(503)安装在基材(502)的两侧边缘处；LED显示屏(501)上形成有若干个反射点(504)。

3.根据权利要求2所述的均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：所述的若干个反射点(504)的中心呈矩阵形式分布在LED显示屏(501)上，每一排平行于光源(503)的反射点(504)的尺寸及形状相同。

4.根据权利要求2所述的均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：位于所述的LED显示屏(501)中部且远离光源(503)的反射点(504)的尺寸大于位于LED显示屏(501)侧部且靠近光源(503)的反射点(504)的尺寸，使反射点(504)的尺寸从LED显示屏(501)的侧部向中部逐渐增大。

5.根据权利要求4所述的均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：所述的位于LED显示屏(501)中部且远离光源(503)的反射点(504)呈圆形，位于LED显示屏(501)侧部且靠近光源(503)的反射点(504)呈椭圆形，使反射点(504)的形状从LED显示屏(501)侧部的圆形向中部的椭圆形逐渐过渡变化。

6.根据权利要求4或5所述的均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：所述的位于LED显示屏(501)中部且远离光源(503)的反射点(504)的中心间距小于位于LED显示屏(501)侧部且靠近光源(503)的反射点(504)的中心间距。

7.根据权利要求1所述的均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：所述的电路板(3)上间隔排布有多根探针(4)，电路板(3)通过多根探针(4)与待测元件的被测位置电性接触连接。

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【技术特征摘要】

1.一种均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：包括测试台(1)和电特性测试机；待测元件设置在测试台(1)上，电特性测试机包括测试机主体(2)、电路板(3)和导光板(5)，电路板(3)与测试机主体(2)电性连接，且电路板(3)与待测元件的被测位置电性接触连接，导光板(5)与测试机主体(2)电性连接，且导光板(5)面向待测元件设置。

2.根据权利要求1所述的均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：所述的导光板(5)包括led显示屏(501)、基材(502)和光源(503)，led显示屏(501)安装在基材(502)上，一对光源(503)安装在基材(502)的两侧边缘处；led显示屏(501)上形成有若干个反射点(504)。

3.根据权利要求2所述的均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：所述的若干个反射点(504)的中心呈矩阵形式分布在led显示屏(501)上，每一排平行于光源(503)的反射点(504)的尺寸及形状相同。

4.根据权利要求2所述的均亮平行光测量电特性的测试工装，其特征是：位于所述的led显示屏(50...

【专利技术属性】
技术研发人员：辛宇航，刘明，
申请(专利权)人：沈阳诺巴斯智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：