一种环形导电元件电阻测试的方法技术

本发明专利技术公开了一种环形导电元件电阻测试的方法，首先，将仿真载体定位在定位治具上，仿真载体上镶嵌有若干外导电块，外导电块与PCB板连接，PCB板与电阻检测仪器电连接；其次，将环形导电元件定位在仿真载体的内侧壁上；之后，将内嵌件定位在仿真载体中并且位于环形导电元件中，环形导电元件的外凸点与外导电块接触，环形导电元件的内凸点与内导电块接触；之后，探针下降与内导电块接触，探针与电阻检测仪器电连接。本发明专利技术提供了一种环形导电元件电阻测试的方法，以准确地检测环形导电元件的电阻，判断电阻值是否在预定范围内，进而判断环形导电元件是否合格。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及产品检测的方法，具体涉及手表内导电元件的检测。

技术介绍

1、电子手表包括一框形主体，在框形主体中安装若干电子元器件，配合在框形主体上的盖板将电子元器件封闭在框形主体内。电子手表设有十二个数值，十二个数值沿框形主体分布，表示一时至十二时。框形主体的内侧壁配合有环形的导电元件，该导电元件设有一豁口，该导电元件的外侧壁设有十二个外凸点，内侧壁设有八个内凸点，外凸点、内凸点与相应的电子元器件接触，实现导电。

2、在组装入电子手表中之前，需要对环形导电元件的电阻进行检测，以判断电阻值是否在预定的范围内。检测时，需要检测元件与环形导电元件十二个外凸点与八个内凸点电接触，与检测元件连接的电阻检测仪器获取环形导电元件的电阻值。

技术实现思路

1、本专利技术所解决的技术问题：如何实现检测元件与环形导电元件十二个外凸点与八个内凸点电接触，以检测环形导电元件的电阻。

2、为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种环形导电元件电阻测试的方法，首先，将仿真载体定位在定位治具上，仿真载体本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种环形导电元件电阻测试的方法，首先，将仿真载体(20)定位在定位治具(10)上，仿真载体呈框形状，仿真载体上镶嵌有若干外导电块(21)，若干外导电块沿仿真载体周向分布，每一外导电块配套有外导电针(22)，PCB板(30)连接在仿真载体的底部，外导电针的上端与外导电块接触，外导电针的下端与PCB板上的导电触点接触，PCB板与电阻检测仪器电连接；

2.如权利要求1所述的环形导电元件电阻测试的方法，其特征在于：将环形导电元件(90)定位在仿真载体(20)的内侧壁上后，将盖板(80)定位在定位治具上，盖板包括定位部分(81)与环形部分(82)，环形部分的内侧壁上设有下压凸头(8...

【技术特征摘要】

1.一种环形导电元件电阻测试的方法，首先，将仿真载体(20)定位在定位治具(10)上，仿真载体呈框形状，仿真载体上镶嵌有若干外导电块(21)，若干外导电块沿仿真载体周向分布，每一外导电块配套有外导电针(22)，pcb板(30)连接在仿真载体的底部，外导电针的上端与外导电块接触，外导电针的下端与pcb板上的导电触点接触，pcb板与电阻检测仪器电连接；

2.如权利要求1所述的环形导电元件电阻测试的方法，其特征在于：将环形导电元件(90)定位在仿真载体(20)的内侧壁上后，将盖板(80)定位在定位治具上，盖板包括定位部分(81)与环形部分(82)，环形部分的内侧壁上设有下压凸头(83)，下压凸头能够压迫在环形导电元件(90)上。

3.如权利要求2所述的环形导电元件电阻测试的方法，其特征在于：将盖板(80)定位在定位治具(10)上后，钳爪装置(60)定位在定位治具上，钳爪装置包括定位在定位治具上的钳爪装置主体(61)、弹性配合在钳爪装置主体上的若干钳爪(62)，钳爪装置主体呈框形...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建平，魏小东，张寅虎，陈瑶瑶，张永鹏，
申请(专利权)人：苏州启航电子有限公司，
类型：发明
国别省市：