一种同步跟踪与邻小区径测量的方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种同步跟踪与邻小区径测量的方法及系统，在ＴＤ－ＳＣＤＭＡ系统中实现下行同步跟踪及测量。其中该方法包括：在天线数据的下行导频时隙附近确定一时间窗，获得时间窗内的２倍采样数据；对２倍采样数据进行干扰消除处理，得到每个小区消除干扰后的信号；根据每个小区消除干扰后的信号，及终端接入过程中获得的下行同步码，获得每个小区的时延函数值；对每个小区的时延函数值进行内插，获得内插采样点并计算其能量值；选取一个滤波系数，根据滤波系数对内插采样点的能量值进行滤波，获得能量时延函数均值；根据能量时延函数均值进行定时检测，完成同步跟踪与邻小区径测量。本发明专利技术提高了处理效率和抗同频干扰性能。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种同步跟踪与邻小区径测量的方法，应用于时分同步码分多址接入系统中，其特征在于，包括：在天线数据的下行导频时隙附近确定一时间窗，获得所述时间窗内的２倍采样数据；对所述２倍采样数据进行干扰消除处理，得到每个小区消除干扰后的信号；根据所述每个小区消除干扰后的信号，及终端接入过程中获得的下行同步码，获得每个小区的时延函数值；对所述每个小区的时延函数值进行内插，获得内插采样点；计算所述内插采样点的能量值；选取一个滤波系数，根据所述滤波系数对所述内插采样点的能量值进行滤波，获得能量时延函数均值；根据所述能量时延函数均值进行定时检测，完成同步跟踪与邻小区径测量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张皓，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]