一种目标高分辨RCS测量方法、系统、存储介质及设备技术方案

技术编号:42629968 阅读:39 留言:0更新日期:2024-09-06 01:31
本发明专利技术实施例公开了一种目标高分辨RCS测量方法,所述方法包括:构建实验模型;根据所述实验模型对试验物体进行扫频,获取第一定标数据;将雷达视线距离划分为若干个距离分辨单元;基于雷达距离方程确定每个距离分辨单元对应的第二定标数据;根据所述实验模型对待测物体进行扫频,获取实验数据;根据相对标定法确定待测物体每个散射中心上的高分辨雷达散射截面。本发明专利技术通过将一组定标数据推广到每个距离分辨单元上的定标数据,实现了待测物体高分辨RCS测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电磁测量,尤其涉及一种目标高分辨rcs测量方法、系统、存储介质及设备。


技术介绍

1、雷达散射截面(rcs)是描述目标对电磁波散射能力的重要参数,通过测量目标的rcs,可以提取目标的几何结构信息并进行散射特性分析,在目标特性识别领域具有广泛的应用价值。

2、在早期的rcs测量中,待测目标通常被视为点目标,使用具有已知rcs的金属球作为定标体,定标体被放置在目标的几何中心位置,通过测量其接收功率来获取定标数据;随后,将待测目标替换定标体,测量其接收功率,最后利用相对标定法计算得出目标的rcs。

3、然而,随着雷达分辨率的提高,待测目标不再局限于点目标,而是更多地被视作电大尺寸目标,对于这类目标,传统的点目标定标方法已不再适用;目前,对于电大尺寸目标的rcs测量,通常使用角反射器、平板或大尺寸的金属球作为定标体,对电大尺寸目标进行室外测量时,易受到天气、地形等环境因素的影响,导致测量条件难以控制,室内测量无法准确评估远离目标几何中心的结构的rcs,因此无法测量目标在每个距离分辨单元上的rcs,从而限制了测量的准确性和完整性本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种目标高分辨RCS测量方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的目标高分辨RCS测量方法,其特征在于,所述构建实验模型具体包括:转台、天线测试架,收发天线,矢量网络分析仪和功率放大器;

3.根据权利要求2所述的目标高分辨RCS测量方法,其特征在于,所述根据所述实验模型对试验物体进行扫频,获取第一定标数据,具体包括:

4.根据权利要求3所述的目标高分辨RCS测量方法,其特征在于,所述基于雷达距离方程确定每个距离分辨单元对应的第二定标数据,具体包括:

5.根据权利要求4所述的目标高分辨RCS测量方法,其特征在于,所述根据所...

【技术特征摘要】

1.一种目标高分辨rcs测量方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的目标高分辨rcs测量方法,其特征在于,所述构建实验模型具体包括:转台、天线测试架,收发天线,矢量网络分析仪和功率放大器;

3.根据权利要求2所述的目标高分辨rcs测量方法,其特征在于,所述根据所述实验模型对试验物体进行扫频,获取第一定标数据,具体包括:

4.根据权利要求3所述的目标高分辨rcs测量方法,其特征在于,所述基于雷达距离方程确定每个距离分辨单元对应的第二定标数据,具体包括:

5.根据权利要求4所述的目标高分辨rcs测量方法,其特征在于,所述根据所述实验模型对待测物体进行扫频,获取实验数据,具体包括:

6.根据权利要求5所述的目标高分辨rcs测量方法,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕冰黄润王闻岩吴迪龙李丹阳左炎春刘伟郭立新
申请(专利权)人:西安电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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