光学成像系统、参数确定方法及装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种光学成像系统、参数确定方法及装置、设备及存储介质，光学成像系统至少包括分光单元、聚焦单元、波数矫正单元以及成像单元，波数矫正单元具有自由曲面；分光单元用于接收第一光线进行分光处理，得到各个波长的第二光线；聚焦单元用于接收各个第二光线进行聚焦处理，得到聚焦后的各个波长的第三光线；波数矫正单元用于接收各个第三光线进行波数矫正处理，得到波数线性分布的各个第四光线；成像单元用于接收各个第四光线进行光学成像处理，得到第一光线对应的目标成像结果。采用具有自由曲面的波数校正单元，不仅可以实现光线的波数线性，还可减少光能量损耗，及矫正聚焦单元的像差，减少像差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学成像，尤其涉及一种光学成像系统、参数确定方法及装置、设备及存储介质。

技术介绍

1、光学相干层析成像(oct)是在上个世纪90年代基于迈克尔逊干涉仪而发展的一种光学成像技术。通过测量样品的后向散射光来还原样品深度方向上的二维和三维结构或功能信息，其无损检测、实时成像的优点被广泛应用于医学检测，具有良好的发展前景。谱域oct(sd-oct)技术是在传统时域oct(td-oct)技术基础上发展而来的，具有更快的成像速度和更高的信噪比，成为当前oct中的主要技术方案。

2、在谱域oct中，通常由光栅光谱仪进行谱域干涉信号的采集。但由于光栅光谱仪的波长均匀分布，需要先对数据进行重采样，这导致了光谱采样带宽的不均匀，降低了oct的分辨率和灵敏度，同时增加了计算成本。

3、线性波数光谱仪在硬件上实现线性波数，避免了数据重采样，可以减少信号处理的时间，提高sd-oct的分辨率和灵敏度。

4、但现有线性波数光谱仪技术方案是采用棱镜对光栅的色散进行校正，这种方法使得光栅发出的光束在棱镜表面的入射角较大，从而导致光学成像系本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光学成像系统，其特征在于，所述光学成像系统至少包括分光单元、聚焦单元、波数矫正单元以及成像单元，所述波数矫正单元具有自由曲面；

2.根据权利要求1所述光学成像系统，其特征在于，所述光学系统还包括准直单元，所述准直单元用于接收第五光线进行准直处理，得到所述第一光线。

3.根据权利要求1所述光学成像系统，其特征在于，所述波数矫正单元至少包括自由曲面透镜，则所述第三光线的光轴垂直于所述自由曲面透镜的入射面。

4.根据权利要求3所述光学成像系统，其特征在于，所述自由曲面透镜的入射面的面型包括泽尼克多项式曲面、Q多项式自由曲面、XY多项式曲面及非均匀有理...

【技术特征摘要】

1.一种光学成像系统，其特征在于，所述光学成像系统至少包括分光单元、聚焦单元、波数矫正单元以及成像单元，所述波数矫正单元具有自由曲面；

2.根据权利要求1所述光学成像系统，其特征在于，所述光学系统还包括准直单元，所述准直单元用于接收第五光线进行准直处理，得到所述第一光线。

3.根据权利要求1所述光学成像系统，其特征在于，所述波数矫正单元至少包括自由曲面透镜，则所述第三光线的光轴垂直于所述自由曲面透镜的入射面。

4.根据权利要求3所述光学成像系统，其特征在于，所述自由曲面透镜的入射面的面型包括泽尼克多项式曲面、q多项式自由曲面、xy多项式曲面及非均匀有理b样条曲面中的任意一种。

5.一种光学成像系统的参数确定方法，其特征在于，所述参数确定方法包括：

6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：张军，李文奇，梁姗姗，蔡元海，李卓伦，
申请(专利权)人：桂林电子科技大学，
类型：发明
国别省市：