【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电数字数据处理领域，尤其涉及一种对导引头电子舱老化筛选的方法及装置。
技术介绍
1、随着现代导引头电子舱技术的不断发展，其在各种应用领域的重要性日益突显。导引头电子舱作为导弹、飞机、火箭等武器系统的核心组成部分，承担着精确制导、目标识别等关键任务。然而，长期的使用和恶劣的环境条件可能会导致导引头电子舱的老化和性能下降，进而影响整个系统的可靠性和作战效能,为了确保导引头电子舱的长期稳定运行和高效性能，需要采用先进的技术手段对其进行全面的老化监测和筛选。传统的老化监测方法通过人工抽样检测，效率低且易出现漏检情况。因此，利用现代信息技术和数据分析方法开发一种自动化、高效的老化筛选装置具有重要意义。
2、现有的对导引头电子舱老化筛选的方法通过人工抽样检测将部件置于环境室，升温至设定温度，施加所需电压进行测试或者在高温高压下，对组件施加多个电刺激，激活更多内部电路，监控输出以评估可靠性和红外探测技术实现。
3、例如公告号为：cn108133085b的专利技术专利公告的一种电子设备舱内设备温度预测方法及系统，包括：基于电子设备舱的设备类型，获取所述设备类型对应的各个类型的温度变量数据流，所述温度变量数据流包括设备温度数据流；基于预设数据长度的滑动窗口，在每个类型的温度变量数据流中截取出每个类型的温度变量数据流对应的窗口数据；将所有类型的温度变量数据流对应的窗口数据作为训练样本集对随机向量功能网络rvfl进行训练，得到设备温度预测模型；将所述滑动窗口在所述设备温度数据流中按照所述预设数据长度滑动，基于所述
4、例如公告号为：cn108804719b的专利技术专利公告的一种数字电路老化仿真方法及装置，包括：对于数字电路的每条时序路径，获取该时序路径中每个模块的状态信息，该状态信息包括数字电路实际运行时的输入电压转换时间、输出负载以及信号概率；基于每个模块的状态信息分别计算每个模块的老化敏感量；基于每个模块的老化敏感量，从存储的老化敏感量与参数信息的对应关系中分别获取每个模块的参数信息；基于每个模块的参数信息，确定时序路径的时序信息。由于状态信息中包括信号概率，信号概率是电路实际运行中决定老化程度的重要因素，且信号概率与数字电路的具体结构相关，因此，根据状态信息确定的时序信息将更符合数字电路的实际情况，提高了仿真精度。
5、但本申请在实现本申请实施例中专利技术技术方案的过程中，发现上述技术至少存在如下技术问题：
6、现有技术中，传统的老化监测方法通过人工抽样检测，效率低且易出现漏检情况，存在导引头电子舱老化筛选不准确的问题。
技术实现思路
1、本申请实施例通过提供一种对导引头电子舱老化筛选的方法及装置，解决了现有技术中导引头电子舱老化筛选不准确的问题，实现了多方面进行导引头电子舱老化筛选。
2、本申请实施例提供了一种对导引头电子舱老化筛选的方法，包括以下步骤：通过测试接口自动获得传感器的测量数据，利用测量数据和校准算法消除噪声干扰进行数据预处理，得到预处理后的测量数据，所述预处理后的测量数据包括滤波数据和老化特征参数数据；将预处理后的测量数据划分为测试集、训练集和验证集；通过预处理后的测量数据建立温度老化模型；通过支持向量机算法对预处理后的测量数据建立导引头电子舱老化预测模型，判断导引头电子舱的老化状态并进行异常检测，若发现数据异常和趋势变化异常立即发出警告；将导引头电子舱老化预测模型的预测结果进行记录并与真实结果进行对比，将导引头电子舱的老化状态以可视化的方式呈现给用户，通过界面展示导引头电子舱的老化状态，其中，所述构建温度老化模型步骤包括：将老化特征参数中的温度因素数据划分为第一测试集、第一训练集和第一验证集建立温度老化模型；通过温度老化模型分析采集到的数据，经过数据处理和数据测试，将温度老化模型预测得出的第一老化值与实际老化状态数据进行对比验证，根据验证结果调整模型。
3、进一步的，所述通过测试接口自动获得传感器的测量数据步骤包括：发送请求到传感器、滤波器启动数据，接收来自传感器的响应数据；所述测试接口用于根据测试用例进行功能测试和性能测试，根据测试结果更新接口文档，记录接口的变更和修复情况。
4、进一步的，所述得到预处理后的测量数据步骤包括：获取数据采集的需求分析数据，根据需求分析数据获取传感器、滤波器的模拟信号；将传感器、滤波器的模拟信号转换为数字信号，得到老化特征参数和滤波器参数，所述老化特征参数包括温度、电阻、湿度和电流，所述滤波器参数包括采集精度以及频率要求；进行数据采集测试与验证，通过对比实际测量值与理论值，验证数据采集准确率并进行数据的实时传输。
5、进一步的，所述构建温度老化模型的数学公式：
6、；
7、式中，表示第一老化值，用于反应温度因素对电子舱老化程度的影响，x代表导引头电子舱所处的环境温度,表示导引头电子舱材料的热膨胀系数，表示导引头电子舱所处环境温度的变化幅度。
8、进一步的，所述建立导引头电子舱老化预测模型的步骤为：将电阻、湿度和电流作为特征，构建特征向量，其中表示第i个样本的电阻值，表示第i个样本的湿度值，表示第i个样本的电流值，将第i个样本的特征向与其对应的老化状态标签组成特征向量，n代表老化状态标签的总数，；使用特征向量对svm模型进行训练,使用交叉验证技术来选择最佳的超参数，调整超参数c和核函数的参数，直到模型达到最佳性能,并将训练好的模型及数据结果保存到数据库中。
9、进一步的，所述svm模型公式为：
10、；
11、式中：是权重向量，通过计算超平面的法向量获得，b是偏置项，是松弛变量，用于处理不可分的情况，c是正则化参数，用于平衡间隔最大化和误分类样本的惩罚，是样本i的老化状态标签，是样本i的特征向量，表示权重向量的模。
12、进一步的，所述异常检测过程为：将温度老化模型计算得出的第一老化值和导引头电子舱老化预测模型计算得出的老化状态标签实时收集，评估温度、电阻、湿度、电流对导引头电子舱老化的影响；根据异常检测策略，通过判断导引头电子舱的异常数据值触发报警机制通知用户；设定老化报警的阈值，当达到阈值后根据不同的老化原因触发不同的报警机制进行报警。
13、进一步的，所述可视化呈现方法为：将温度老化模型得到的第一老化值和导引头电子舱老化预测模型计算得出的老化状态标签，进行可视化输出，显示对应信息类型和内容，内容包括老化程度、退化趋势、异常警告。
14、本申请实施例提供了一种对导引头电子舱老化筛选的装置，包括测试接口模块、数据处理模块、温度老化模型模块、导引头电子舱老化预测模型模块和结果显示模块：所述测试接口模块：用于通过测试接口自动获得传感器的测量数据，利用测量数据和校准算法消除噪声干扰进行数据预处理，得到预处理后的测量数据，所述预处理后的测量数据包括滤波数据和老化特征参数本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所述通过测试接口自动获得传感器的测量数据步骤包括：
3.如权利要求1所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所述得到预处理后的测量数据步骤包括：
4.如权利要求1所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所述构建温度老化模型的数学公式：
5.如权利要求1所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所述建立导引头电子舱老化预测模型的步骤为：
6.如权利要求5所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所述SVM模型公式为：
7.如权利要求1所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所述异常检测过程为：
8.如权利要求1所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所述可视化呈现方法为：
9.一种对导引头电子舱老化筛选的装置，其特征在于，包括测试接口模块、数据处理模块、温度老化模型模块、导引头电子舱老化预测模型模块和结
...【技术特征摘要】
1.一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所述通过测试接口自动获得传感器的测量数据步骤包括：
3.如权利要求1所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所述得到预处理后的测量数据步骤包括：
4.如权利要求1所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所述构建温度老化模型的数学公式：
5.如权利要求1所述一种对导引头电子舱老化筛选的方法，其特征在于：所...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭友铭，王荣梅，张亚轩，
申请(专利权)人：北京国科欣翼科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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