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基于磁梯度张量的多磁目标定位方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:42584657 阅读:23 留言:0更新日期:2024-09-03 18:02
本申请提出一种基于磁梯度张量的多磁目标定位方法、装置、设备及介质,涉及磁目标定位技术领域,使用单传感器获得两个水平探测平面中各测点的方向解析信号,对水平位置相同的方向解析信号作差分,得到其在z方向上的变化量;根据变化量得到水平探测数据并成像,得到多个磁目标的水平信息;使用单传感器获得深度探测平面中各测点的磁梯度张量G,得到各测点的深度探测数据并成像;根据多个磁目标的y轴坐标值和成像结果,得到多个磁目标的深度信息。上述方法是在磁梯度张量G的基础上,对所测磁场信息进行成像处理,以确定磁目标位置,该方法对磁传感器阵列的校正精度要求较低,并且受环境噪声的影响较小。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及磁目标定位,特别是涉及基于磁梯度张量的多磁目标定位方法、装置、设备及介质


技术介绍

1、在磁目标探测作业中,磁梯度张量信息可提供更深度的磁场附加信息、拥有更高的空间分辨率的优点,因此磁目标定位方法通常选择磁梯度张量数据进行定位计算。然而,传统的磁目标定位方法通常只基于单个磁目标的测量数据,单个磁目标的定位方法难以有效用于对多个磁目标进行探测。

2、目前对于多个磁目标的定位方法是在欧拉反演方法的基础上进行改进得到的,通过欧拉反演方法获得大量的磁目标位置数据后,有的方法是通过k-means聚类算法对这些初始位置数据进行聚类,来确定每个磁目标在三维空间中的位置;有的方法是利用网格式数据采集磁场梯度张量数据,推导多点联合反演的欧拉方程组,提出寻找最优解的快速准确方法,并通过遗传算法对反演最优解进行优化;有的方法是使用fcm聚类算法(fuzzy c-means clustering algorithm)对欧拉反演方法得到的初始位置进行聚类,以确定磁性目标的数量和位置。但上述方法存在对校正精度要求较高、检测磁目标数量不确定、定位结果偏向对测点影本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于磁梯度张量的多磁目标定位方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述基于磁梯度张量的多磁目标定位方法,其特征在于,使用单传感器获得每个水平探测平面中各测点的方向解析信号Ax、Ay和Az,包括:

3.根据权利要求1所述基于磁梯度张量的多磁目标定位方法,其特征在于,所述两个水平探测平面包括水平探测平面1和水平探测平面2,高度相差L米,所述水平探测平面1在z轴方向的高度高于所述水平探测平面2在z轴方向的高度。

4.根据权利要求3所述基于磁梯度张量的多磁目标定位方法,其特征在于,对所述两个水平探测平面上对应水平位置相同的测点的所述方向解...

【技术特征摘要】

1.一种基于磁梯度张量的多磁目标定位方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述基于磁梯度张量的多磁目标定位方法,其特征在于,使用单传感器获得每个水平探测平面中各测点的方向解析信号ax、ay和az,包括:

3.根据权利要求1所述基于磁梯度张量的多磁目标定位方法,其特征在于,所述两个水平探测平面包括水平探测平面1和水平探测平面2,高度相差l米,所述水平探测平面1在z轴方向的高度高于所述水平探测平面2在z轴方向的高度。

4.根据权利要求3所述基于磁梯度张量的多磁目标定位方法,其特征在于,对所述两个水平探测平面上对应水平位置相同的测点的所述方向解析信号ax、ay和az作差分,得到所述方向解析信号ax、ay和az在z方向上的变化量,采用的计算公式如下所示:

5.根据权利要求1所述基于磁梯度张量的多磁目标定位方法,其特征在于,根据各测点的所述方向解析信号ax、ay和az在z方向上的变化量,得到各测点的水平探测数据,采用的计算公式如下所示:

6.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑小平杨丽卢志昱
申请(专利权)人:清华大学
类型:发明
国别省市:

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