【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及三维测量，尤其涉及一种基于多通道特征融合的线结构光中心线提取方法。
技术介绍
1、线结构光三维视觉非接触测量方法实现简单、测量速度快、精度高，被广泛应用于三维测量领域。线结构光照射到被测物体表面形成光条纹后被相机捕获，该光条纹受到被测物体表面材质、几何形状、噪声等因素影响会出现不连续、畸变等现象，如何快速准确提取线结构光中心线，对提高线结构光三维测量的精度具有重要意义。
2、目前对激光条纹中心线提取方法的研究较多，常见的方法包括极值法、灰度重心法、steger算法以及采用边缘检测的方式；其中极值法和灰度重心法是在激光条纹灰度满足高斯分布时效果较好，但是容易受环境噪声干扰，鲁棒性较差；steger算法利用海森矩阵求取光条纹法向量，将其法向上极值作为中心点，但该算法含大量的卷积，实时性较差；边缘检测是通过检测图像中的灰度变化获取边缘特征，此方法容易受到噪声的干扰。
3、针对这些问题，本专利技术提出了一种基于多通道特征融合的线结构光中心线提取方法，基于多通道特征融合提取线结构光中心线，以完成被测物体表面轮
【技术保护点】
1.一种基于多通道特征融合的线结构光中心线提取方法，其特征在于，该方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于多通道特征融合的线结构光中心线提取方法，其特征在于，利用一阶导数得零并且二阶导数小于零的方法，分别求取主通道H和次通道M的灰度图中光条纹每一行像素的横截面波峰。
3.根据权利要求2所述的基于多通道特征融合的线结构光中心线提取方法，其特征在于，横截面波峰的求取方法如下：
4.根据权利要求2所述的基于多通道特征融合的线结构光中心线提取方法，其特征在于，求取横截面波峰之前，对图像进行高斯卷积，即对主通道H和次通道M的灰度图的每个像素采...
【技术特征摘要】
1.一种基于多通道特征融合的线结构光中心线提取方法，其特征在于，该方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于多通道特征融合的线结构光中心线提取方法，其特征在于，利用一阶导数得零并且二阶导数小于零的方法，分别求取主通道h和次通道m的灰度图中光条纹每一行像素的横截面波峰。
3.根据权利要求2所述的基于多通道特征融合的线结构光中心线提取方法，其特征在于，横截面波峰的求取方法如下：
4.根据权利要求2所述的基于多通道特征融合的线结构光中心线提取方法，其特征在于，求取横截面波峰之前，对图像进行高斯卷积，即对主通道h和次通道m的灰度图的每个像素采用55的高斯卷积模板窗口进行滤波处理。
5.根据权利要求1所述的基于多通道特征融合的线结构光中心线提...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪汉玉，吕瑞衡，叶亮，王家乐，杨喻琨，
申请(专利权)人：武汉工程大学，
类型：发明
国别省市：
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