【技术实现步骤摘要】
本申请涉及测试装置，尤其涉及一种存储芯片的测试装置。
技术介绍
1、存储芯片作为一种重要的电子器件，其功能是将数据存储在内部的存储单元中，并且能够快速读取和写入数据，被广泛应用在计算机领域、通信领域、汽车领域、物联网领域以及医疗领域等。随着信息技术的不断发展，以及技术的不断进步，存储芯片的容量和速度将进一步提升，为各个领域带来更多的创新和发展机会，同时，存储芯片的功耗和可靠性也将得到更好的改进，以满足不同领域对存储芯片的需求。
2、在此大环境下，企业生产需要运用大量的测试方法来验证生产的存储芯片性能优劣，其中，功耗性能的表现就成为了验证产品质量优劣的重要指标之一。而现有的测试方法无法进行批量测试，只能单板测试功耗性能，并且需要借用外设，如精密万用表，通过延长线连接被测设备进行测试，兼容性差，当遇到需要测量不同规格型号的存储芯片时，需要借助转接板、焊接、跳线等手段进行测试，加大工作量。
3、因此，一种不需要借用外设，就可以测试存储芯片功耗的测试装置被人们迫切需要。
技术实现思路<...
【技术保护点】
1.一种存储芯片的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括
2.根据权利要求1所述的存储芯片的测试装置，其特征在于，所述存储芯片固定位设置有至少一个，且每个所述存储芯片固定位均与所述第二连接端口连通。
3.根据权利要求1所述的存储芯片的测试装置，其特征在于，所述检测单元板与所述存储单元板通过I2C总线连接。
4.根据权利要求1所述的存储芯片的测试装置，其特征在于，所述存储单元板还包括底板，所述底板包括总端口和存储单元模块，所述总端口与所述存储单元模块连通，且所述总端口位于所述存储单元模块的边缘，所述总端口至少包括所述第二连接端口；所述...
【技术特征摘要】
1.一种存储芯片的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括
2.根据权利要求1所述的存储芯片的测试装置，其特征在于，所述存储芯片固定位设置有至少一个，且每个所述存储芯片固定位均与所述第二连接端口连通。
3.根据权利要求1所述的存储芯片的测试装置，其特征在于，所述检测单元板与所述存储单元板通过i2c总线连接。
4.根据权利要求1所述的存储芯片的测试装置，其特征在于，所述存储单元板还包括底板，所述底板包括总端口和存储单元模块，所述总端口与所述存储单元模块连通，且所述总端口位于所述存储单元模块的边缘，所述总端口至少包括所述第二连接端口；所述存储单元模块至少包括所述存储芯片固定位。
5.根据权利要求4所述的存储芯片的测试装置，其特征在于，所述底板包括第一面和与所述第一面相对的第二面，所述第二连接端口设置在所述第一面，所述存储芯片固定位设置在所述第二面。
6.根据权利要求1所述的存储芯片的测试装置，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：李明志，俞文全，
申请(专利权)人：深圳市时创意电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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