一种自动光学检测工艺制造技术

技术编号:42574004 阅读:43 留言:0更新日期:2024-08-29 00:39
本发明专利技术公开了一种自动光学检测工艺。本发明专利技术使用扫码枪自动读入批次号,使用光学镜头自动读取基板来料标刻好的基板码,从而提高自动光学检测设备后续检测基板时的效率,根据器件位置生成对应图谱,并标记不良代码。基板图谱本地保存并依据批次号上传至数据库供后道打标、测试等设备读取进行联动灵活设计,降低错混料风险、提高整线生产效率,并且,也减少人工的工作量,从而降低人工成本。通过自动读取批次号和基板码号并进行与第一道DB工序绑定基板二维码的校验,输出图谱的基板码绑定至批次号,从而保证可追溯性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于自动光学检测,更具体地说,尤其涉及一种自动光学检测工艺


技术介绍

1、aoi的中文全称是自动光学检测,是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。aoi是新兴起的一种新型测试技术,但发展迅速,很多厂家都推出了aoi测试设备。当自动检测时,机器通过摄像头自动扫描pcb,采集图像,测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出pcb上缺陷,并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来,供维修人员修整。运用高速高精度视觉处理技术自动检测pcb板上各种不同贴装错误及焊接缺陷。pcb板的范围可从细间距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在线检测方案,以提高生产效率,及焊接质量。

2、然而,现有的自动光学检测还存在以下缺陷:

3、由于自动光学读取基板码的效率低下,从而影响后续基板生产的效率,并且,也间接降低了整线的生产效率。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,本专利技术通过相机拍摄读取二维码后获得对应的唯一基板码,与第一道d本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种自动光学检测工艺,其特征在于:包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种自动光学检测工艺,其特征在于:所述S1中,使用扫码枪读取批次号防错根据批次号自动调用程序,通过独立上下料顺序设计:上料部和下料部和分别自定义上料顺序如从上层到下层或与之相反顺序,上料生产后使用相机拍摄标刻在基板边缘的基板二维码。

3.根据权利要求2所述的一种自动光学检测工艺,其特征在于:所述S1中通过相机拍摄读取二维码后获得对应的唯一基板码,与第一道DB工序绑定的批次号校验:在输入当前作业批次号点击开始作业读取基板码后,将读取的基板码与设备读取数据库中在DB工序与此批次号绑定的基板码...

【技术特征摘要】

1.一种自动光学检测工艺,其特征在于:包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种自动光学检测工艺,其特征在于:所述s1中,使用扫码枪读取批次号防错根据批次号自动调用程序,通过独立上下料顺序设计:上料部和下料部和分别自定义上料顺序如从上层到下层或与之相反顺序,上料生产后使用相机拍摄标刻在基板边缘的基板二维码。

3.根据权利要求2所述的一种自动光学检测工艺,其特征在于:所述s1中通过相机拍摄读取二维码后获得对应的唯一基板码,与第一道db工序绑定的批次号校验:在输入当前作业批次号点击开始作业读取基板码后,将读取的基板码与设备读取数据库中在db工序与此批次号绑定的基板码进行对比,然后判断是否为本批次基板,校验正确后进入检测。

4.根据权利要求1所述的一种自动光学检测工艺,其特征在于:所述s2中的检测程序采用图片对比和灰度差方法检出不良:待检测项拍摄一张良品图片作为基准图像,用检测时拍的输入图像与之差分后得到一个二值化图像,通过设置灰度等级实现对不良项的检出,每种不良分发不同代码标记在基板图谱对应位置。

5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:缪建民谢建卫朱天意
申请(专利权)人:苏州华锝半导体有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1