激光测量设备及其控制方法技术

本申请提供一种激光测量设备及其控制方法，属于激光测量技术领域。所述激光测量设备包括至少一个扫描单元、至少一个移动单元、控制单元和处理装置。各扫描单元用于向待测量物体发射测量激光、接收从待测量物体反射的反射光线，并生成多张反射图像、从各反射图像中提取测量位置信息并输出到控制单元；控制单元用于在处理装置的控制下，配置各扫描单元的参数信息、并控制各移动单元移动，以及用于接收各扫描单元输出的测量位置信息、根据各移动单元的位置分别将各扫描单元输出的测量位置信息打包为目标数据，并将目标数据发送到处理装置。处理装置用于根据三维点云数据图得到待测量物体的几何参数。本申请可以达到提高测量的准确率和效率的效果。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及激光测量，具体而言，涉及一种激光测量设备及其控制方法。

技术介绍

1、在工业制造领域，经常需要对不同形状、尺寸的零部件进行生产检测，或者在装配不同零部件时需要检测各零部件的表面平整度、角度等参数，以便确保生产、加工、装配各种零部件的质量。

2、相关技术中，相关技术人员一般会采用传统的接触式测量方式，比如，通过固定待检测物体并将三坐标测量机的测量探头与待检测物体的表面相抵，然后获取待检测物体的离散空间点位置，以便进行相应的计算进而得到待检测物体的几何参数。或者，可以利用二维视觉检测技术进行测量，具体可以通过摄像头拍摄待检测物体某一平面的照片，然后通过图像分析或比对来识别待检测物体，进而得到待检测物体的某一平面上的几何特征。

3、然而，相关技术中的接触式测量方式可能会造成待检测物体形变，且需要用到的装置较为复杂，而利用二维视觉检测技术进行测量又无法检测出待检测物体的三维几何数据。因此，相关技术的方案存在测量的准确率和效率较低的问题。

技术实现思路

1、本申请的目的在于提供一种激光本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种激光测量设备，其特征在于，包括测量装置和处理装置，所述测量装置包括至少一个扫描单元、至少一个移动单元和控制单元；

2.如权利要求1所述的激光测量设备，其特征在于，所述扫描单元包括激光器、传感器和逻辑控制单元；

3.如权利要求2所述的激光测量设备，其特征在于，所述逻辑控制单元还用于对各所述反射电信号进行初步处理操作，得到各所述反射电信号中的有效数据，并根据所述有效数据生成各所述反射图像；

4.如权利要求2所述的激光测量设备，其特征在于，所述逻辑控制单元具体用于确定所述反射图像中各像素点的灰度值，并确定所述反射图像的每一列像素点中灰度值最大的目标像...

【技术特征摘要】

1.一种激光测量设备，其特征在于，包括测量装置和处理装置，所述测量装置包括至少一个扫描单元、至少一个移动单元和控制单元；

2.如权利要求1所述的激光测量设备，其特征在于，所述扫描单元包括激光器、传感器和逻辑控制单元；

3.如权利要求2所述的激光测量设备，其特征在于，所述逻辑控制单元还用于对各所述反射电信号进行初步处理操作，得到各所述反射电信号中的有效数据，并根据所述有效数据生成各所述反射图像；

4.如权利要求2所述的激光测量设备，其特征在于，所述逻辑控制单元具体用于确定所述反射图像中各像素点的灰度值，并确定所述反射图像的每一列像素点中灰度值最大的目标像素点对应的像素坐标；以及，利用预设拟合算法对各所述像素坐标进行过滤处理，以得到各所述测量位置信息。

5.如权利要求1所述的激光测量设备，其特征在于，各所述扫描单元还用于以所述移动单元的移动方向作为第一轴，以...

【专利技术属性】
技术研发人员：程洪，楚梁，田威，周泽海，
申请(专利权)人：武汉中观自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：