【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及无线通信领域中数字集成电路设计及测试技术，尤其涉及通 讯设备中基站侧无线基带芯片可靠性测试装置及方法。
技术介绍
在基站侧无线基带芯片的研发过程中，需要把无线基带芯片放在实际应 用系统中进行可靠性测试。如图1给出了传统基站侧设备可靠性测试系统的示意图。整个测试系统包括无线终端101、无线终端102、射频设备103、 可靠性测试环境104、无线基带设备105、基站控制器106、核心网107，待 测试的无线基带芯片放置于无线基带设备105中，而无线基带设备105本身 又放置于可靠性测试环境104中。在传统基站侧设备可靠性测试中，一4殳是先施加试验条件(比正常情况 下更苛刻的条件)，然后开始CS域(比如打电话，，)或PS域(比如FTP 下载)或CS域+PS域混合等业务的测试，最后根据具体试验的现象，按 照国际或国家或行业或企业等标准得出测试结论。比如中华人民共和国国 家标准GB/T 17618、 GB/T 17626.1等标准^L定若有关专业标准化技术委 员会或产品技术规范没有给出不同的技术要求，试验结果应该按受试设备的 运行条件和功能规范进行如下分类。...
【技术保护点】
一种基站侧无线基带芯片的测试装置，其特征在于，所述装置包括相互连接的待测芯片以及控制器单元；其中： 所述待测芯片，用于作为上行可靠性测试的被测对象； 所述控制器单元，用于控制所述待测芯片的上行天线数据流的产生时间点，并在正确的时 间窗内为所述待测芯片配置上行工作参数及产生所述上行天线数据流，通过查询所述待测芯片的上行工作状态，以及读出所述待测芯片输出的上行处理结果，并将所述上行处理结果与上行参考结果进行比较，来判断所述待测芯片上行处理结果的正确性。
【技术特征摘要】
1、一种基站侧无线基带芯片的测试装置，其特征在于，所述装置包括相互连接的待测芯片以及控制器单元；其中所述待测芯片，用于作为上行可靠性测试的被测对象；所述控制器单元，用于控制所述待测芯片的上行天线数据流的产生时间点，并在正确的时间窗内为所述待测芯片配置上行工作参数及产生所述上行天线数据流，通过查询所述待测芯片的上行工作状态，以及读出所述待测芯片输出的上行处理结果，并将所述上行处理结果与上行参考结果进行比较，来判断所述待测芯片上行处理结果的正确性。2、 按照权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待测芯片，用于作为下行可靠性测试的被测对象；所述控制器单元，用于控制所述待测芯片的下行天线^:据流的采集时间 点，在正确的时间窗内为所述待测芯片配置下行工作参数及采集所述待测芯 片的所述下行天线数据流，并将采集的所述下行天线数据流与下行参考结果 进行比较，以及查询待测芯片的下行工作状态，来判断所述待测芯片下行处 理结果的正确性。3、 按照权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述控制器单元包 括主控单元和仆控单元，其中所述仆控单元，分别与所述待测芯片以及所述主控单元连接，用于在所 述主控单元的控制下，将接收的来自所述主控单元的数据保存，并在指定的 时间点向所述待测芯片输出上行天线数据流；或者，在指定时间点从所述待 测芯片采集下行天线数据流，以判断所述下行处理结果的正确性，并将下行 处理的判断结果保存；所述主控单元，用于分别对所述仆控单元和所述待测芯片进行参数配置 和状态查询，向所述仆控单元写入数字基带天线的上行天线数据，作为上行 测试激励用，并从所述仆控单元读出所述上行天线数据；以及判断所述待测 芯片上行输出的正确性；或者，向所述仆控单元写入数字基带天线的下行天 线数据，作为所述下行参考结果用，并从所述仆控单元读出所述下行处理的判断结果。4、 按照权利要求3所述的装置，其特征在于，所述仆控单元为现场可 编程逻辑阵列FPGA,所述主控单元为处理器；其中，所述处理器是物理上 的一个处理器，或是多个处理器，所述多个处理器为同类型或不同类型的。5、 按照权利要求4所述的装置，其特征在于，所述FPGA内含有存储 单元访问控制器，所述FPGA下挂有存储单元，用于在所述存储单元访问控 制器的控制下作为所述FPGA的数据存储空间；所述处...
【专利技术属性】
技术研发人员：许祥滨，杨晓龙，谭建华，汤顺，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。